D/A-B36超宽动态范围线性光电转换仪简介

前言在激光参数测量和材料的光学特性测量中,常常涉及10～2～10～8W的光强的测量,光强的变化范围高达四～六个数量级。检测中常因检测仪器的线性示值范围太窄而使人感到困扰。为此,我们研制成功了D/A-B36光电转换仪。由于该仪器采用了双通道探测系统,并在硅光电检测器插入零阻抗变换器和A/D变换器,采用六位数字显示,所以能在五个数量级的超宽动态范围内使光-电转换保持高度的线性。在不换档和重调零的情况下,可同时对两束光的光强进行实时检测,排除了测量中因     

D/A-18数字光强比值测量仪

D/A-18数字式光强比值测量仪,可测量二束光的强度比。被测量的二束光,用一配对的硅光电池双光束同时检测。被测二光束的强度比值用五位数字直接显示或供数字打印机打印。 由于被测量的二束光的强度是在同一瞬时计量的,因而用来测量晶体的消光比、材料的透明度或者偏振光、偏振棱镜的偏振度时,可以大大减小激光强度波动造成的测量误差,也没有因电流计换档而造成读数偏差。 当在偏振光系统中测量晶体的消光比或者偏振棱镜的偏振度时,我们用渥拉斯顿(Wollaston)棱镜作为检偏振镜以同时获得待测的二束光,在这种场合下,测量装置的光路如图1所示。     

BBO晶体中位错的研究

位错是BBO晶体中的主要缺陷。用λ=532nm的Q开关Nd:YAG的SHG(Second Harmonics Generation)为光源的LST法(Light Scattering Tomography),可以无损地观测晶体中的位错形态。BBO晶体中的位错形态为空间型的麻绳花样的三维网络。位错线上级饰有许多外来杂质。