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针对材料试验机测控系统要求精度高,实时性好的特性,提出一种基于32位的ARM微处理器SEP3203和实时操作系统μC／OS-Ⅱ的电子万能试验机测控系统开发方案。其中,触摸屏与LCD合为一体,采用AC97＋UCBl400的工作方式来完成图形用户界面的设计;利用24位的CS5530芯片来完成数据模拟量的采集。在硬件平台基础上,选用μC／OS-Ⅱ作为控制器的操作系统,完成软件的结构化设计,通过移植μC／GUI,实现控制器的人机接口功能。 相似文献
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