基于扫描的DFT对芯片测试的影响

本文首先简要地介绍了基于扫描的DFT技术,然后具体结合一种控制芯片,通过对两种测试方法的比较,说明了DFT对芯片测试向量、故障覆盖率及测试成本等的影响。     

扫描设计中测试逻辑的研究

本文首先分析了时序元件的不可测因素，介绍了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明，该方法简便易行，故障覆盖率高达99％。     

FLEX解码器结构、设计与实现

本文从ASIC设计角度介绍了支持漫游的新一代FLEX解码器的组成、原理及其ASIC实现,并在FPGA上成功得到验证。     

租赁用LED显示屏多批次箱体混合使用的解决方案

不同批次的箱体间不仅存在亮度差异性,也存在有色度差异性。目前的亮度和色度调整解决方案,还难于解决租赁应用中不同批次的箱体混用问题。文章首先阐述了租赁屏的应用需求,然后阐述了色度调整技术的基本原理和现有的解决方案,提出了当前可行的一些方案,并展望了未来的技术方向。