粒径和应力对ZnS吸收边的影响

提出透射光谱的新方法研究粒径和应力对半导体禁带宽度的影响。用传统化学方法制备得到ZnS样品,通过控制不同反应溶液的浓度来得到不同粒径的样品,烘干后对大、小颗粒样品进行X射线衍射分析;将ZnS粉末在环氧树脂胶体中收缩产生应力,得到所有需要的样品后测试其相应的透射光谱。对实验结果进行理论分析表明:三种不同粒径样品经过数据处理后发现粒径越大,ZnS禁带宽度越小,吸收边发生红移现象;应力作用比无应力作用下ZnS禁带宽度大,吸收边发生蓝移现象。