介质表面颗粒膜介电常数分析

假设材料表面极性棒状分子为取向分布,采用取向序参数,考虑局域场对有极分子、固有偶极矩的作用及基底材料表面和分子之间相互作用能,计算了材料表面颗粒膜的介电常数。计算结果表明：颗粒膜的介电常数依赖于基底材料相对介电常数和棒状分子之间的距离;其次还发现在分子面积和分子临界面积接近的范围内,分子和材料表面之间的相互作用能使之成为单一的贡献。反之,分子面积与分子临界面积相差较大时,局域场的相互作用是主要的贡献。     

亚稳态Fe-Cu固溶体合金的(Ms-电子/原子)曲线

用机械合金化(MA)锻压方法制备了bcc和fee结构的块状亚稳态Fe-Cu固溶体系统,并对系统的磁化强度、价电子结构进行了测量和计算,从亚稳态Fe-Cu固溶体的饱和磁化强度Ms-e／a(电子／原子)曲线可看出：大约在26．2e／a的区域Ms有最大值,并且在大约28．6e／a的区域接近零．这个结果与Fe-Co和Fe-Ni系统类似(在大约26．2e／a的区域Ms最大,在大约28．6e／a时Ms近似为零).由此我们推论：相对在0K亚稳态Fe-Cu固溶体的每原子的电子数字的饱和磁矩(Ms)曲线与其它二元过渡金属(Fe-Co和Fe-Ni)的曲线类似．在Cu含量大约为35mol％(此时平均电子结构为27．1e／a)时的混合相区域出现负的曲率．     

铁磁金属纳米点接触的磁电阻

分析三种不同方法制备的铁磁金属纳米点接触样品的弹道磁电阻现象,使用原子力显微镜准确测量铁磁金属点接触样品的磁致伸缩和微磁力行为,探讨由于磁致伸缩和微磁力等机械因素引起的样品微观结构变化对所测量铁磁金属纳米点接触样品的弹道磁电阻效应所产生的影响,得出在变化磁场作用下,在铁磁金属纳米点接触样品中所观察到的大比例弹道磁电阻现象可能与样品发生的微观结构变化而导致的电阻变化有关.     

颗粒膜电介质光子晶体低频折射率问题分析

应用颗粒膜电介质晶体在低频极限下的准静态折射率和静态折射率的关系,分析和计算了光子晶体低频折射率,结果表明：由于低频电磁波诱导的涡流（或极化电流）,使非磁性光子晶体显现反磁性共振,这个共振依赖于周期性颗粒的半径和趋肤深度之间的关系。即,如果趋肤深度远远小于周期性颗粒的半径,包含物内部电磁场被屏蔽,使每一种包含物的行为像理想反磁性体。对于平行颗粒膜平面的（H偏振）电磁波,光子晶体的反磁性磁导率总体上是随填充数的增加而线性的减少;相反的,当趋肤层大于半径,则反磁性体共振可以忽略。周期性颗粒的磁化引起静态和准静态折射率的结论,解释了非对易限制的问题。