首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   12篇
  免费   1篇
电工技术   5篇
无线电   7篇
自动化技术   1篇
  2017年   1篇
  2010年   1篇
  2009年   3篇
  2008年   1篇
  2005年   1篇
  2004年   1篇
  1997年   1篇
  1996年   4篇
排序方式: 共有13条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片的测试要求也越来越高。本文介绍了FLASH存储器的基本结构和测试原理,特别是详细分析、研究了可应用于FLASH芯片的测试算法,对算法进行了部分改进与综合。测试实验表明,在与传统的棋盘格测试方法相同的故障覆盖率时,本方法的测试效率更高。  相似文献   
2.
为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,所造成测试效率低下和成本浪费的问题.根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境,设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制文件STDF与文本文件的双向转换,通过对比转换生成的文本和标准ATD文本,验证了程序转换结果的正确性,最后将转换程序植入国产自动测试系统BC3192V50,从而实现测试数据标准化.测试实验结果表明,该算法能够高效的实现双向转换,规范了测试数据的结构,提升了测试数据的可分析性.  相似文献   
3.
本文介绍了数字集成电路测试系统的工作原理,提出了两种AC参数的定量测试方法:二分步长测试和on the fly测试。通过预先设置驱动/比较时间和测试向量、执行功能测试、从结果存储器获取“通过/失效”结果,可以计算出AC参数的量值。测试一个AC参数,二分步长测试方法需多次执行测试向量,on the fly测试法仅需执行一次测试,但要求测试系统具备on the fly资源。两种方法的测试精度相同,均能有效解决AC参数的定量测试,后者更适于高速器件的测试。文中介绍的方法在BC3192集成电路测试系统上对MAX488器件进行测试,在250 kHz的测试频率下,两种方法测得的tSKEW参数结果近似相等,具有很好的一致性。  相似文献   
4.
由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。  相似文献   
5.
郭士瑞 《电子测试》1997,11(1):43-47
由于工程师们面临更大的测试挑战与预算的压缩,测试平台的选择变得更加重要了。具有竞争力的企业必须在技术方面投资,以便以更低的成本、更快地生产更好的产品。  相似文献   
6.
本文介绍了MP的保护功能及其测试,提出了一种利用微机资源进行故障仿真的自测试方法,该方法简便、规整、直观,不需要借助外部的自动测试设备,并且已经在386、486和586微机上得以实现,效果良好。  相似文献   
7.
内建自测试技术(BIST)的测试产生和响应压缩方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文分析了内建自测试技术(BIST)的测试产生和响应压缩的各种方法和结构,并提出了适用于层次化自测试结构的BIST测试产生和响应压缩方法。  相似文献   
8.
VXI数模混合信号集成电路测试系统   总被引:4,自引:1,他引:3  
数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目(VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化)为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATE IC测试系统,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。  相似文献   
9.
郭士瑞 《电子测试》1996,10(2):7-11
1 引言随着可测性技术的发展,越来越多的电子产品都开始采用边界扫描设计,在设计这些支持边界扫描的新产品时,会面临一个问题:如何描述这些边界扫描器件?本文介绍了边界扫描描述语言(BSDL),它是VHSIC硬件描述语言(IEEE Std 1076—1987 VHDL)的一个子语言。遵从两条原则:一是对用户友好;二是对计算机来讲简单、无二义性。  相似文献   
10.
Flin.  A  郭士瑞 《电子测试》1996,10(2):38-41
多芯片模块(MCM)测试是一个复杂的问题,因此开发一种正确的测试方法很重要。这需要弄清楚许多系统设计问题:费用、设计的规模、可修复性、CAD工具的可获得性、可测试性设计的层次。人们很容易在这些问题中迷失方向,但自测试提供一种解决方法。因为要把多个IC电路组装在一个小封装中是非常复杂的过程,所以多芯片模块是一种高成本的系统设计。传统的IC全功能测试仅适于比较简单的MCM。因为缺少进入这种小封装的方法,所以用板测试技术来测复杂的MCM也有困难。在很多应用中,自测试能够提供真速测试,这是由于许多MCM都包含有自测试所必须的某些处理单元。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号