首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   1篇
  免费   0篇
无线电   1篇
  1999年   1篇
排序方式: 共有1条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1
1.
SiGe合金具有较高的载流子迁移率与较低的结晶温度,比Si更适合用作薄膜晶体管(TFT)。最近,我们已证实,利用Al2O3作多晶SiGeTFT的门绝缘子,可使界面得到显著改善。虽然已经证明,由Si缓冲层的高温氧化形成的SiO2可改善界面质量,但是还不清楚在SiGe有源层与Al2O3门电介质之间插入一α-Si缓冲层能否进一步提高界面的质量。在本研究中,对于有、无α-Si缓冲层的多晶SiGeTFT的性  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号