可靠性问题讲座 第二讲 统计抽样方法

一、引言为了确保产品质量合乎规定的指标,通常要对产品进行百分之百的检验,这对某些产品是可行的,为对少量生产的、贵重的、有特殊要求的产品可以采用全部检验的办法,在人力上、经济上都是许可的,这也是工业发展初期广泛采用的方法。随着近代工业的发展,生产规模和产品数量大大增加,有时候要对全部产品进行质量检验会遇到很多困难,甚至是不可能的,在这些情况下常代之以抽样检验的办法。例如,半导体器件厂要把成千上万的大批产品提交使用方时,常常要检查一下这批器件参数是否准确,分类包装是否有错误,在提交前的存放过程中参数是否有过大的变化等等。如果把全部器件拆封重测,工作量极大,也容易引入新的错误。环境试验常常是有     

微波功率器件动态寿命试验方法和技术研究

介绍了对微波功率器件开展的动态加速寿命试验方法和技术的研究。主要阐述了实现振荡式微波动态寿命试验的方法 ,以及不同于常规的对受试功率器件进行内部式加热控温的技术研究。     

关于半导体器件热特性表征和控制技术的研究

根据对器件散热特性的分析,提出用特定脉宽的瞬态热阻抗表征器件的稳态散热特性.测量了特定器件热阻与温度的依赖关系,建议在实际工作中注意器件热阻并不为常数的客观事实.提出应力试验前后测量器件热阻可有效控制器件的某些制造缺陷.     

微波功率器件动态试验系统

为开展微波功率器件动态加速寿命试验,建立了一套由计算机实时监测的微波动态试验系统.采用微带电路剥离以及加热部件与其他电路的隔热连接等方法,实现了对每个器件进行独立的内腔式加热,从而单独提高受试器件环境温度,保证了高温应力下微波动态电路的稳定性和可靠性.同时编制了计算机程序软件,解决了参数校准、参数提取等方面存在的误差修正及提高测试精度等技术问题,实现了对试验过程的实时监测和数据的完整保存.     

L波段硅脉冲功率管52000器件小时的脉冲射频加速寿命试验

利用红外热像显微测量峰值结温方法对L波段硅脉冲功率晶体管在脉冲射频(f=1.3 GHz,Pin=40 W,r=150μs,D=10％)和峰值结温220℃条件下进行52000器件小时的脉冲射频加速寿命试验.由此估算出该功率管在峰值结温125℃和上述RF条件下,器件失效率λ≤1.59×10-7h-1.试验分析表明,采用本试...     

标准中氦质谱检漏试验判据的研究

通过计算,指出美国军用标准MIL-ST0-750E<半导体器件试验方法>的方法1071.8中的氨质谱检漏的固定方法和灵活方法判据的宽严程度有明显的差异,多数情况下超过一个数量级.建议在参考此类标准和执行类似标准时应加以注意.     

军用标准中有关质量保证的两个概念的讨论

提出了相关军用标准中的“质量保证大纲”的含义不是一个文件。而应理解为体系（包括机构、硬件、程序及其执行要求和情况）;“大纲计划”不是指对今后工作的计划,而应反映已存在的质量保证状况的观点。建议在军用标准的制定中对用词做相应的修正。     

PIND试验的特殊属性和适用范围研究

研究了PIND试验的特殊属性——试验结果的不确定性,PIND试验的目的是检测极小颗粒的多余物,设备必须具备很高的灵敏度,因而也就极易受到外界的干扰产生误判,由此分析认为该试验适用于筛选,并具有不可替代的作用,但不适用于质量一致性检验。     

MMIC高温工作加速寿命试验失效机理分析

采用恒定功耗高温加速的试验方法,搭建了相关的试验系统,对高温工作寿命试验(HTOL)方法在功率GaAs MMIC领域的应用进行了一些探索。试验获得了对失效机理进行分析所需的失效数,所有样品的失效都是由同一原因引起的。通过监测数据和失效样品的分析,发现存在欧姆接触退化与栅金属下沉两种失效机理,但最终引起失效的机理单一,为栅金属下沉。