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1.引言全息存储早在六十年代中期就被人们所认识,由于材料的局限性,以及光电器件远远不能满足全息存储处理的要求,其发展非常缓慢。然而,到了九十年代以后, 已今非昔比,全息存储材料及光电子器件等有了很大的发展,例如为提高存储密度而采用先进的PCM复用技术;材料如有机光致聚合薄膜和有机光折变薄膜的应用研究于1994年以后有了很大发展;小型、低价、稳定、 相似文献
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详细描述了用光纤耦合、波长复用的全息光盘仔储光路.指出在全息光盘驱动器即将市场化的今天.由于其光路简单、光学元件较少、性价比高.很有可能成为新的全息光盘驱动器的核心技术之一。由于短波长单模光纤及其双波长光纤分束器件的要求比较高.而用多模光纤进行准单模输出调整.以及用分光棱镜进行光束的分光.同时用对双波长敏感的光致聚合物材料进行存储.其光谱灵敏度均匀.光谱范围互不重叠。实验结果表明.光路结构合理.存储效果良好。 相似文献
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检验球面镜的一般装置是 Twyman-Green干涉仪。如果被测表面是非球面时,由于测试表面与参考表面之间的形状相差较大,而得不到精确的测试结果。解决这一问题的通常方法是:1.利用某些无像差点构成一个能得到理想球面波的光路;2.专门设计一个光路使某些变形波面最后转变成理想的球面波。在光学工艺中称为“另位”检验,并被认为是最好的方法。上述的二种方法有一定的局限性、计算机产生全息图用来检验非球面是“零位”检验的一种新方式,它是基于全息图产生一个“样板波面”与被检波面相干涉而得。为准确地得到测试结果,我们分析了计算全息检验的干涉仪调整及其误差测量。 相似文献
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详细描述了进行亚微米、深亚微米光记录和探测的测试仪器,其探测功率可达30mW,最小的探测时间为20ns,探测的最小光点200nm左右,带有CCD观察的系统可方便地定位及进行图像处理,整个测量过程均在计算机控制下进行,操作非常方便,它是对高密度光盘材料记录性能进行测量,以及对深亚微米,乃至纳米记录材料进行研究的有效工具。 相似文献
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用于光盘技术的偏振棱镜的性能测定 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍了偏振分束棱镜的偏振度和消光比的测试方法及计算公式,给出了被研制的偏振棱镜的性能。 相似文献
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