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1.
本文介绍一种立式单座标高精度长度测量仪器─—SGC数显测高仪。主要介绍仪器的工作原理、结构特点及误差。给出了经过单片误差修正后的测量精度。简要阐述了电路原理及主要程序框图。列出了国内外同类产品性能比较表。  相似文献   
2.
在氢气氛下机械球磨AZ31镁合金粉末,利用机械力作用使镁合金粉末与氢气发生反应生成纳米晶MgH2,用X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)等方法观察和分析了镁合金粉末与氢气在球磨过程中的微观组织演变.结果表明:球磨初始阶段粉末颗粒被碾压成扁平状,随着球磨的进行粉末颗粒逐渐细化,球磨至80h,形成粒度1~3μm、晶粒尺寸10nm左右的纳米晶MgH2粉末材料.  相似文献   
3.
本文论述了莫尔条纹光电信号鉴相细分方法的原理,电路结构和引起细分误差的各种因素,给出了细分误差关系式。笔者还制作了实用的鉴相400细分电路,进行了细分精度的实际测试,并获得了细分误差小于一个分辩率的结果。  相似文献   
4.
高能球磨制备纳米晶镁合金粉末的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用氩气保护下的高能球磨,制备了纳米晶AZ31镁合金粉末。采用X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)等方法,研究了高能球磨过程中粉末微观组织与形貌演变规律。结果表明:随着球磨时间的延长,镁合金粉末的晶粒尺寸逐渐减小,微观应变和晶格常数逐渐增大;粉末颗粒首先被碾压成扁平状并相互焊合使颗粒尺寸粗化,然后随球磨的继续进行发生断裂,使颗粒尺寸逐渐减小;球磨80h后,粉末组织与形貌均趋于稳定,获得了平均颗粒尺寸为15~20μm、晶粒尺寸为85nm左右的纳米晶AZ31镁合金粉末。  相似文献   
5.
本文介绍一种立式单座标高精度长度测量仪器-SGC数显测高仪,主要介绍仪器的工作原理、结构特点及误差。给出了经过单片误差修正后的测量精度。简要阐述了电路原理及主要程序框图。列出了国内外同类产品性能比较表。  相似文献   
6.
图1所示是我所研制生产的SGC数显测高仪,是一种立式单坐标可移动智能化长度测量仪器。它以高精度的光栅尺作为长度基准,对被测件作几何尺寸测量,用它可测量孔和轴的直径,平面与平面,平面与中心的高度距离,还可以测量中心距等形位误差项目。  相似文献   
7.
更时尚的机身设计 与i50呆板的造型相比.三星i6的外观设计上可下了不少功夫,虽外壳仍采用铝合金拉丝工艺面板,但机身手柄位置的弧形设计,再加上防滑柄.可为用户带来更加舒适的握感。2.5英寸、23万色TFT屏右侧的按键布局基本没有变化.仍是以圆形的五维按键控制大部分功能,不过i50的变焦组键在i6上变成了上下推拉的扁平摇杆,操作更加方便。  相似文献   
8.
介绍低速直流系统反馈测量的原理及方法,并论述了FUZZY PI控制器的一种设计方案,这种方案应用于低转台系统,转台在0.5~1r/h的转速内无爬行,调整时间Ts=0.3s,最大超调量δP=3%。  相似文献   
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