针对SMD晶体器件检测的机器视觉系统的设计

SMD晶体器件的检测工序是其出厂前的最后一道工序,由于在测试时其电极具有方向性,因此需要对其进行方向识别。而传统光纤传感器无法实现稳定可靠的判别。本文提出了一种采用机器视觉系统进行判别的方法,降低了检测成本,提高了检测质量和效率。并对机器视觉系统硬件的搭建和软件测试算法进行了介绍。     

基于AD9852的嵌入式信号源的设计

频率合成技术是目前研制信号源的关键技术，文中介绍了一种基于直接数字频率合成技术的信号源的实现，信号产生选用DDS专用芯片AD9852，详细介绍了信号产生模块、人机交互模块和控制与数据处理模块的设计与实现，并给出了软件控制框图。利用该技术研制的信号源精度高、频率范围宽，结构简单、使用方便、交互性好，性能稳定可靠。     

基于USB的晶片分选系统的设计

在石英晶体器件生产过程中,对器件中的关键部件石英晶片的频率进行分类是必不可少的一道工序。为了提高产能,必须大量应用自动分选仪器。本文介绍了一种自动晶片分选系统的设计和实现方法。该分选系统测试精度高,运行速度快,使用简单方便,由于采用了USB接口实现上位机和下位机的通讯,简化了系统的维护,很好的满足了晶体生产的需求。     

采用可变增益放大器实现宽带信号的恒定输出

在对石英晶片的电性能参数进行测试时,需要对被测晶片施加一个高频扫描激励信号.通常该激励信号可以通过一个直接数字频率合成器(DDS)来实现.若采用固定信号放大器放大输出,则其低频信号幅度将远远大于高频信号幅度,而对被测晶片的激励信号应保持在600mV左右,显然无法通过固定增益放大器达到这一性能指标.由于信号的放大增益,要依据该信号的频率变化而改变,因此设计采用可变增益放大器来实现.     

基于SNMP协议的晶片自动分选机的集中监控系统的设计与实现

石英晶体是电子产品中不可缺少的基础元件，在晶体生产过程中，利用晶片分选机进行分选是提高晶体的产出率和质量的关键手段。采用SNMP网络管理协议开发的晶片分选机集中监控系统，对分选机进行的集中监控，解决了对晶体生产进行统筹管理的问题。     

基于SNMP协议的晶片自动分选机的集中监控系统的设计与实现

石英晶体是电子产品中不可缺少的基础元件,在晶体生产过程中,利用晶片分选机进行分选是提高晶体的产出率和质量的关键手段.采用SNMP网络管理协议开发的晶片分选机集中监控系统,对分选机进行的集中监控,解决了对晶体生产进行统筹管理的问题.     

陶瓷电子器件成品自动剪切测试系统的设计

本文介绍了一种新型的自动分选系统，专门针对于陶瓷成品器件的分选。该先选系统将剪切和分选结合起来，不但保证了测试精度还提高了生产效率。     

基于DSC的直流电机半桥驱动电路的设计

由于直流电机能实现方便的平滑调速且启动性能好的特性,在工业自动化领域中有着广泛的应用。目前,直流电机通常采用H桥电路进行控制,在控制大电流电机的情况下,控制电路的体积大,电路元件多,导致可靠性下降,电路成本也较高。本文提出了一种半桥控制电路,在不降低控制性能的前提下,减少了大功率的电路元件的使用,不但降低了成本,提高了电路的可靠性,而且还具有很好的扩展性。     

嵌入式变频扫描分析仪的设计

在设计开发,电路维修等领域,经常要测量电子元器件或电路模块的频率响应特性,而现有的测试仪器大多价格昂贵或是体积庞大,不能满足大多效用户的需求;针对以上问题,提出了一种基于ARM(R)CortexTM-M3内核单片机的嵌入式变频扫描分析仪;该仪器频率扫描速度可达到0.09ms/频点,频率范围可达到1MHz～100MHz,分辨率可达到100Hz;具有低成本、小型化和多功能等特点;用户可以直接在该仪器上修改并设置工作参数以满足各种不同的测试需求,同时该仪器还可以通过USB接口与计算机相连,并能够整合到其他自动测控系统中,实现自动测试功能.     

基于CAN的SMD晶体自动测控系统的设计

针对SMD晶体器件的生产需求,设计了基于CAN总线的SMD晶体成品器件自动测控系统,文中,对系统的总体方案、所采用的拓扑结构、子节点的硬件设计以及主控软件和子模块控制软件进行了介绍,对CAN控制器、CAN收发器的选型以及应用中所要注意的问题也进行了讨论,在软件设计中,对CAN控制器的应用模式以及通过报文滤波实现报文的单点和多点发送也进行了描述,通过实际运行证明,整个系统在连续工作的情况下,可保证可靠高效的运行状态,满足了SMD晶体成品器件生产中,对自动化设备的运行可靠性和运行效率的要求.