排序方式： 共有5条查询结果，搜索用时 15 毫秒
1
1.
3.
与金属薄膜电阻器、线绕电阻器不同,厚膜电阻器的结构相当复杂。金属氧化物粗细微粒被埋入玻璃基中。电阻率的大小强烈地依赖于组成成份的百分比。可以认为,决定电阻值大小的主要因素是导电粒子的接触面积,且这些粒子通过隧道效应来传导。 据报道,已研究了一种更易理解的噪声频谱分析法。测量通过样品的交直流电流。我们采用工业用1/3倍频程分析仪,对1.6Hz和25kHz频率范围的输出噪声电压进行了分析。 实验结果表明,厚膜电阻器的玻璃基片将逐步被腐蚀,而噪声的测量与腐蚀的步进次数有关。 相似文献
4.
陈锡奎 《电子产品可靠性与环境试验》1994,(1):43-47
1 概述早在五十年代,国外就开始了模拟太阳辐射试验的研究,美苏等国相继制订了日光辐射试验方法;并研制了相应的试验设备。IEC在1958年的巴黎会议和1959年的瓦敦堡会议上,讨论了人工日光辐射试验问题。1960年日光辐射试验作为正式试验项目列入 相似文献
5.
1