基于BIT设计的电子设备验证平台

机内测试(BIT)是应用于复杂电子系统中非常重要的一种自测试手段,是测试性设计实现的重要保证。嵌入式测试能力的好坏直接关系到系统或设备内部检测和隔离故障的能力优劣。针对电子设备中BIT与功能设计脱节、测试总线资源不足、电子设备难以直接嵌入测试等难题,本文提出基于BIT设计的电子设备验证平台的构建方案,并结合典型案例实物进行BIT设计和电子设备验证平台的搭建,对典型案例实物完成了测试性分析、BIT设计、故障注入系统的设计、综合诊断和性能验证,从而提高电子设备的可测试性和维修性、简化测试和维修设备、提高测试和维修效率、为电子设备的综合诊断和健康管理提供案例性能验证支撑。     

诊断权衡优化测试性分析技术

现今对于电子设备进行故障诊断以及后续PHM的需求越来越多,本文结合测试性分析的流程,提出了一种面向诊断的测试性分析方法,并使用开发的软件对某型号的发电机进行测试性建模与分析,按照给出的诊断策略进行测试可以取得比较好的效果。     

基于LSTM算法的电子部件故障预测

故障诊断与预测使用大量信息数据,需要采用推断统计、神经网络等研究方法,对测试数据进行分析和预测,从而评估设备健康状况,在故障发生前对指标进行预测和采取预防举措,最大限度保证电子设备健康工作。本文提出了基于LSTM(长短时记忆网络)算法的电子设备部件故障预测模型,针对时序型数据对轴承运行状态进行分析和预测。