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一、前言随着微电子技术的飞速发展，集成电路的规模越来越大，设计周期越来越短，对测试的要求也越来越高，用传统的测试编程方法已难适应集成电路高速发展的需求。因此，在电子设计自动化（EDA）技术日趋完善的今天，通过在电路设计的同时进行故障模拟和可测性分析，借助CAD的软硬件，采用响动测试图形生成技术（ATPG）等加速超大规模集成电路测试码的产生，达到缩短集成电路测试程序及测试码的产生时间。因此目前国际上流行的CAT测试设备都能用网络和CAD连接在—起，互相之间进行程序和数据的传输，但我所目前使用的8032测试系统… 相似文献
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