Computer aided measurement of the electromagnetic parameter for the microwave absorbing materials

The electromagnetic parameters of microwave absorbing materials are important criteria when appraising the properties of absorbents. For reconstruction of parameters which belongs to the inverse scattering problem, the test data in requirement of traditional impedance method are "just enough" and not "redundant" to comprehensively evaluate the electromagnetic properties of materials. A novel optimization approach involving multiple impedance measurements is introduced in this paper to implement automatic measurement for electromagnetic parameters on microwave slot-line. Some results for standard samples and microwave absorbing materials are given.     

静电复印用铁氧体球形载体(Ⅰ)

开发了一种可在电子照相技术的双组份显影剂中使用的尖晶石型镍-锌铁氧体磁性载体。实际试用表明,这种载体适用于施乐1035(2970)及3970型静电复印机。与传统的球形铁基粉末载体比较,它具有耐蚀性好、使用寿命长和驱动力低等优点。     

微波吸收材料电磁参数的计算机辅助测量

微波吸收材料的电磁参数在评价吸收剂性能时是一个重要指标。参数重建于电磁逆散射问题，而传统的阻抗方法仅利用“正好足够”的测试数据来获取电磁参数，未能利用“冗余”数据对材料的电磁性能作综合评定。本文介绍结合网络参数的多点测量阻抗的优化方法，在测量线上实现了电磁参数的自动测量。文中给出了标准样品和吸收材料的实测结果。     

微波吸收材料电磁参数的计算机辅助测量

微波吸收材料的电磁参数在评价吸收剂性能时是一个重要指标。参数重建属于电磁逆散射问题,而传统的阻抗方法仅利用正好足够的测试数据来获取电磁参数,未能利用冗余数据对材料的电磁性能作综合评定。本文介绍结合网络参数的多点测量阻抗的优化方法,在测量线上实现了电磁参数的自动测量。文中给出了标准样品和吸收材料的实测结果。     

SOS外延膜的光吸收研究

<正> SOS(蓝宝石上外延硅)膜是异质外延,由于点阵失配、外延后冷却时产生的热应力及自掺杂效应,外延膜的结晶质量及半导体性能对于衬底制备及外延工艺参数非常敏感.Druminski等根据SOS膜的光谱反射吸收测量,提出用一光吸收因子F_A来表征硅膜的结晶质量.F_A定义为