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回顾了在高温条件下AIGaN/GaN HEMT器件特性的研究进展。发现2DEG的高温特性是影响器件高温性能的根本内在因素,且外延材料的缺陷、衬底及其器件的封装形式也影响器件的高温特性。最后总结了适合高温下工作的AIGaN/GaN HEMT的改进方法。  相似文献   
2.
随着对筛选测试质量的要求越来越高,测试数据量也越来越大,且不同测试机台有不同测试数据格式。面对海量且格式不一的测试数据,测试工程师需要一项项手动提取并整理分析,这使得批量的数据分析工作耗时长、易出错。为了提高测试数据提取分析的效率和准确度,减轻测试工程师的压力,本文设计了一种基于Perl语言的测试数据提取分析自动化工具。该工具可以自动的批量提取整理数据,并标记超限数据,且能根据要求输出统计图形。该工具大大缩短了测试数据整理分析时间,且错误率为0。  相似文献   
3.
回顾了在高温条件下A1GaN/GaN HEMT器件特性的研究进展.发现2DEG的高温特性是影响器件高温性能的根本内在因素,且外延材料的缺陷、衬底及其器件的封装形式也影响器件的高温特性.最后总结了适合高温下工作的AlGaN/GaN HEMT的改进方法.  相似文献   
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