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MCU芯片一般都使用JTAG作为调试接口,但JTAG至少要占用4个引脚,而SWD(Serial wire debugger)只占用2个引脚,适合封装引脚数较少的芯片。由于SWD是串行的,数据按时钟边沿一位一位传输。按照传统的编程方法,在大量编程时会导致冗余与复杂,难以理解与应用。通过对SWD协议的深入研究,首先将协议中复位、密钥、空闲、写指令等基本操作编写为基本任务,然后通过调用一些基本任务来编写中型任务,最后通过调用中型任务以实现大型任务的编写。在CDS/incisiv142仿真环境下,使用大型任务进行编程,实现了通过SWD调试接口访问的MCU芯片内核寄存器及外设。 相似文献
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随着客户需求的复杂化及先进EDA工具的使用,MCU芯片向高复杂性、高集成度、高性能发展,电路规模越来越大,这使得MCU的可测性设计变得越来越困难。介绍了传统测试结构及其局限性,以及优化后的测试结构及其测试策略,实现了CKS32F0XX芯片的测试向量产生及整体测试。 相似文献
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通过对反正切函数实现算法的研究,在传统CORDIC算法的基础上,提出了一种以超前进位加法器为基本单元的迭代结构,双时钟输入,完成了反正切函数的ASIC电路设计。该算法采用TSMC55 nm工艺,在Synopsys/syn10.12环境中综合实现。该算法的关键路径由原来的2.9 ns提升至1.3 ns,最高运算频率可以达到769 MHz,即优化后的CORDIC算法比优化前速率提高了2倍多。 相似文献
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