微波暗室反射率电平论述分析

本文通过对微波暗室进行概述,对小型微波暗室反射电平测试原理及步骤进行明确,为其他测试过程提供参考。随着5G通信、物联网等技术加快应用和持续发展,无线设备数量呈现出大规模增长。并且,各类设备体积也开始向着小型化趋势发展,无线设备测试需求量得到更大速度增长,这就对测试技术进行调整优化,加快对微波暗室进行使用,有利于更好提升测试效率。加上,微波暗室往往占地空间小、使用成本低、测试功能全面等优势受到通信测试行业的欢迎。     

微波单片集成电路测试技术研究

单片机集成环境主要应用于无线通信、雷达、电子测量等行业,近年来随着设备的发展,对机器的需求增加,对可靠性的要求也提高了.单片有源微波项目在国内尚处于起步阶段,没有相关的方法[1].为了防止这种情况,该文通过测量有源损耗、1 dB压缩点、单组件侧分贝和放大器以及射频开关等关键参数来探索有源单片集成设备和微波测试技术.