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利用变形和形貌的关系测量三维形貌的方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
提出了根据变形测量和形貌测量的关系测量物体三维形貌的方法。利用电子散斑干涉(ESPI)测量物体面形时,物体偏转微小角度会引入附加的物面高度差,从而引入载波条纹。分析了物面偏转角度和附加高度差之间的关系,得出了物面相位和物面高度之间的映射关系。物面的相位由傅里叶变换法求得。对球冠面形进行了测量,实验表明,在物面上产生干涉载波条纹,进而测量物面面形,具有灵敏度高的优点。  相似文献   
2.
To reveal and utilize the interaction between Tamm plasmon polaritons (TPPs) and two-dimensional materials are promising for exploiting next-generation optoelectronic devices.Herein,the coupling mechanism between metal TPPs and monolayer WS2 along with its differences from that between metal TPPs and graphene was studied in detail by using the transfer matrix method.The experimental results show that it is difficult to excite TPPs at the boundary between monolayer WS2 and d...  相似文献   
3.
电子散斑干涉载频调制形貌测量技术   总被引:7,自引:0,他引:7  
提出了电子散斑干涉(ESPI)载频调制测量物体形貌的方法.在ESPI中,物体表面的微小偏转可引入包含物体高度信息的载波干涉条纹,具有灵敏度高的优点.用摄像机采集该载波条纹图,利用傅里叶变换法可解调出物体高度的位相信息,从而实现物体的形貌测量.  相似文献   
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