EDAX 9100能谱仪薄膜定量分析的研究

本文通过在Philips EM400T透射电镜上用一些标准成分的样品进行薄膜X射线能谱无标样成分分析实验,检验了目前国内广泛使用的美国EDAX 9100能谱仪薄膜无标样方法的分析准确度。本实验结果为:在分析Cr,Fe,Ni等相邻元素时,准确度较高,绝对误差一般在1％左右或更小;而使用同一线系分析临界激发能之比E_A/E_B≤2的近邻元素,相对误差约为5％～10％;分析非近邻元素的误差还要大些;而使用不同线系分析,相对误差可大至20％～50％。本实验认为采用高电压、尽可能使用同一线系进行分析及选取能量离得较近的X射线进行分析可以提高9100能谱仪的分析准确度。通过用TaSe_2薄膜在不同厚度与X光出射角进行的薄样品吸收实验,证明了在分析质量吸收系数之差Δμ较大的样品时,必须考虑吸收修正。用Goldstein等的薄样品吸收公式:F_(AB)=exp〔-(μ_B-μ_A)ρtcscψ/2〕可以较好地克服由薄样品吸收带来的分析误差,从而明显改善了9100能谱仪对TaSe_2的分析结果。     

Cu-Al25合金中小Frank位错环的TEM分析

Ａｌ２Ｏ３颗粒弥散强化的Ｃｕ－Ａｌ２５合金是用于国际核聚变反应堆高热流材料的重要侯选材料。它的辐照损伤微观结构机理研究倍受国际学术界关注。本工作对其进行了３００ｋｅＶＣｕ＋离子辐照，以模拟１４ＭｅＶ中子辐照产生的高能初级离位原子（ＰＫＡ）及其在材料中...     

加速器法沉积无氢类金刚石薄膜的性能与结构

本文对用加速器法（ＣＡＤ）在９Ｃｒ１８不锈轴承钢上制备的无氢类金刚石（ＨＦＤＬＣ）样品进行了显微硬度测试、磨擦磨损试验、激光扫描显微镜（ＬＳＭ）观察和透射电镜（ＴＥＭ）分析。试验结果表明用该工艺方法制 的ＨＦＤＬＣ膜具有非晶态显微结构，硬度极高，磨擦贪婪在损性能优异。