MDA建模的AOP扩展策略及其比较

对于MDA横切于核心业务逻辑的关注点对封装的破坏的问题,本文给出把AOP引入到MDA的扩展策略和主要方法,并对不同的扩展策略进行了比较。     

MDA模型转换的同步技术

给出一种源模型和目标模型间的链接技术及其实现方法,该方法能很好地实现源模型和目标模型间的双向可追踪。既可以对源模型的更新执行正向转换,还可以实现目标模型向源模型的逆向转换。     

一种能有效降低Memory BIST功耗的方法

随着系统芯片(SoC)上存储器比重的日趋增加和Memory BIST(memory built-inself-test)的广泛应用,对较低测试功耗的嵌入式Memory BIST的设计要求越来越高,因为测试功耗一般为系统正常工作时的两倍多,而过高的功耗会烧毁电路和降低芯片成品率.通过采用按时钟域划分存储器组和串并结合的方法来降低Memory BIST的测试功耗.实验仿真结果表明,用该方法所得的最大功耗只有传统方法的1/14,可见该方法能有效降低测试时的能量损耗.     

基于Turbo PROLOG面向对象方法

面向对象（ＯＯ）技术是当前计算机界讨论的热点，另一方面，知识信息处理正成为计算机应用的主要领域，发展中的基于知识的软件工程将成为一种关键的软件技术，本文提出一种基于ＴｕｒｂｏＰＲＯＬＯＧ的ＯＯ程序设计方法学，我们：（１）简明地讨论了ＯＯ方法的基本概念和基本要素；（２）给出了在ＴｕｒｂｏＰＲＯＬＯＧ中实现ＯＯ各要素的规则和方法；（３）分析了ＯＯ基本特征在该方法中体现及存在问题。     

合金化热镀锌IF钢板镀层显微组织的TEM观察

介绍了用聚焦离子束方法制备合金化热镀锌IF钢板镀层横截面TEM试样，应用透射电镜对其显微结构进行了观察。结果表明，商用合金化热镀锌IF钢板镀层显微结构由近界面的牙齿状Г相层和等轴Г1相及δ相组成，晶粒尺寸为0．5～1μm；δ相电子衍射斑点中存在明显的超点阵斑点。     

基于TCAD的45 nm CMOS器件温度特性模拟

基于TCAD工具,在一定温度范围内,对45 nm器件的电特性与性能稳定性是否能保持进行了建模和模拟验证。通过TCAD工具建立工具流,在300~400 K温度下,实现对45 nm CMOS器件I-V特性的模拟,以观察器件在一定温度范围内的特性曲线。通过与工艺文件对比表明,在25 ℃~127 ℃范围内,45 nm CMOS器件的电特性能够保持一定的稳定性。     

测试驱动开发探讨

测试驱动开发是一种新的软件开发方式。探讨了测试驱动开发方法对于软件开发的各个阶段的影响,并探讨了测试驱动开发方法的优点及其存在的问题。测试驱动开发能够提高代码的质量,帮助设计出可重用和可测试性的代码,是一个有影响的研究方向。     

合金化热镀锌镀层组织中Γ1相的有序结构

采用聚焦离子束(FIB)方法制备了合金化热镀锌IF钢横截面TEM试样,研究了镀层中Γ1相显微结构,得到了Γ1相选区电子衍射花样(SADPs).结果表明在Γ1相选区电子衍射花样中存在超点阵衍射,说明Γ1相是一种具有2倍周期结构的有序金属间化合物,这种结构不同于Γ1单相试样具有的6倍周期的有序结构.     

带高速电流舵DAC的直接数字频率合成器

本文给出了一种高速SiGe BiCMOS直接数字频率合成器设计。该数字频率合成器单片集成了高速DDS数字核,10位差分电流舵 DAC,串/并接口和时钟控制逻辑。芯片采用0.35μm SiGe BiCMOS标准工艺流片,工作在1GHz系统频率。测试结果显示,该DDS能够生成高达400+ MHz的捷变模拟sine波形。     

A digital calibration technique for an ultra high-speed wide-bandwidth folding and interpolating analog-to-digital converter in 0.18-μm CMOS technology

A digital calibration technique for an ultra high-speed folding and interpolating analog-to-digital converter in 0.18-μm CMOS technology is presented.The similar digital calibration techniques are taken for high 3-bit flash converter and low 5-bit folding and interpolating converter,which are based on well-designed calibration reference, calibration DAC and comparators.The spice simulation and the measured results show the ADC produces 5.9 ENOB with calibration disabled and 7.2 ENOB with calibration enabled for high-frequency wide-bandwidth analog input.