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按x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75和1.00,制备SrBi4-xLaxTi4O15的陶瓷样品.用X射线衍射对其微结构进行分析,并测量了铁电、介电性能.结果表明,La掺杂未改变SrBi4Ti4O15的晶体结构;随掺杂量的增加,样品的矫顽场(Ec)减小,剩余极化(2Pr)先增大,后减小;在x=0.25时,2Pr达到极大值24.2μC@cm-2,这时Ec=60.8 kV@cm-1适量La掺杂可提高SrBi4Ti4O15的铁电性能.SrBi4-xLaxTi4O15的相变温度Tc随x的增加逐渐降低,x=0.25时,Tc=451℃. 相似文献
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通过对X射线衍射仪样品架的改进，使尺寸过大或过小的样品的X射线衍射谱的测量更加方便与准确。对于小尺寸块状样品或薄膜样品，采用在样品背面加橡皮泥，用玻璃片压在铝制样品架上的方法固定；而通过裁剪铝制样品架，使大尺寸样品可方便地固定和测量。 相似文献
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