运用NAND闪存的负延时存储测试系统

非易失性存储器应用在存储测试中具有存储容量大,掉电后数据不丢失的优点.在存储测试系统中,为了能完整地记录测试信号,在电路中使用负延时来记录电路触发点以前的数据.负延时功能在触发信号为被测信号的幅值达到触发阈值触发电路时,显得更加重要.本文介绍了使用单片机结合CPLD控制两片NAND结构闪存实现高速存储,并实现负延时功能.本装置实现了小体积,微功耗,高过载.     

多次重触发技术的研究

多次重触发技术在存储测试系统中的应用,是针对引信运输安全模拟实验的多次磕碰冲击测试以及齿轮轮齿多次啮合过程弯曲应力而提出的.对每次重触发记录的起始地址进行锁存,以便读数时直接找到该次记录的真实起点,无须利用程序调整.该研究对重触发技术在存储测试系统中的应用具有重要意义.     

一种重力开关的设计

目的　研究一种实用于存储测试装置在测试飞行体的飞体参数时 ;方便其上电的开关 .方法　利用存测装置相对于重力方向的变化来设计 .结果与结论　制作了一种简单小巧、上电方便的开关     

一种激磁电源电路的设计

本文针对磁通门传感器的特点,设计了一种专用的激磁电源电路,并给出了励磁的波形和感应脉冲.