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溶液温度和衬底对电化学沉积Cu2O薄膜形貌的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
以透明导电玻璃(TCO)、纳米TiO2/TCO、CNTs/TCO、铜片分别为工作电极,用简单铜盐通过阴极还原制备了Gu2O薄膜,并研究了溶液温度和衬底对电化学沉积Gu2O薄膜形貌的影响.结果表明:以TCO和铜片为衬底时,由于表面微粒为微米级,不管溶液温度高低,只能得到微米级的Cu2O薄膜;以纳米TiO2/TCO和CNTs/TCO为衬底,池温高于30℃只能得到微米级的Cu2O薄膜,而池温降到0℃时,都可得到纳米Cu2O. 相似文献
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氢氧化镍作为碱性蓄电池的正极活性物质,广泛应用于镍氢、镍镉和镍锌等电池。+2价氢氧化镍主要有α和β两种晶型。β-Ni(OH)2属于六角晶系(单胞参数为:a=0.313nm,c=0.463nm),其中OH^-为六角密积形成等间距层状结构,氢氧键平行于c轴,Ni^2+处于层间八面体位置。α-Ni(OH)2晶化程度相对较差,其结构仍属于六角晶系(单胞参数为:a=0.31nm,c=2.268nm),β-Ni(OH)2的层状结构在此仍然保留,但层间却无序的插有水分子及酸根离子,插入酸根离子的种类取决于母溶液。 相似文献
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利用透射电子显微术,主要包括亮场像形貌观察、选区电子衍射结合运动学模拟计算和高分辨电子显微像,对水热法制备的结晶良好的Nj(SO4)0.3(OH)1.4纳米带结构和生长形态进行了表征,并结合利用在不同温度的离线热处理及原位电子辐照,对从结晶良好的Nj(SO4)0.3(OH)1.4纳米带到疏松多孔的NiO纳米带,最后到NiO纳米颗粒的结构演变进行了系统研究,得到了Nj(SO4)0.3(OH)1.4和NiO的取向关系,揭示了这一系列过程的结构演变并给出了Nj(SO4)0.3(OH)1.4的初步结构模型. 相似文献
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水热法制备氧化锌阵列及其形貌控制 总被引:1,自引:0,他引:1
低温条件下, 采用水热法, 通过控制前驱溶液的pH值, 在预先镀有ZnO纳米膜的导电玻璃衬底上制备了形貌各异的ZnO阵列, 用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)和紫外-可见分光光度计等分析手段对ZnO纳米棒的结构和形貌进行了表征. 同时还对不同形貌阵列的形成机理进行探讨. 结果表明, 所制ZnO纳米棒为单晶, 沿c轴择优生长. 在pH值为10.5左右时, 能得到取向性好、直径均匀(d~nm)的ZnO纳米棒阵列. 光学测试表明, 在可见光区透光度超过80%, 禁带宽度约为3.25eV. 相似文献
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针对城市轨道直流牵引供电系统短路故障定位困难的问题,提出了一种考虑轨地回路分布式参数的双端稳态故障测距算法。在发生短路故障后,利用故障区间相邻牵引变电所馈线直流开关柜的测试电路将直流牵引网电压施加在接触网与钢轨之间,利用2次测量的牵引网端口电阻进行故障测距。在考虑钢轨-大地两层回流结构的基础上,对分布式参数的轨地回路进行T型等效,通过解析计算得到故障距离与端口电阻的表达式。该方法不需要增加额外的故障测距设备且不需要双端数据的同步,不受接触电阻和暂态过程中的钢轨阻抗频率特性的影响。利用CDEGS仿真软件模拟直流牵引供电系统故障,讨论了不同接触电阻、故障点位置、过渡电阻以及电压、电流测量装置测量误差对故障测距精度的影响。在实验室小功率平台上采用裸导线模拟完全绝缘和较低过渡电阻的2种情况,结果验证了所提故障测距算法的有效性和实用性。 相似文献
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Ba(Ti,Sn)O3陶瓷的微观结构研究唐一文王仁卉戴明星(武汉大学物理系,武汉430072)近几年来,人们对居里点在室温附近的弛豫铁电体Ba(Ti,Sn)O3产生了兴趣。它的大的、几乎无滞后的电致伸缩效应[1],以及其优异的介电性能[2]具有良好的... 相似文献
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