烟道用ZrO2氧敏传感器测氧的仪表化方程

本文提出一个新的烟道氧敏传感器测氧的仪表化方程，并给出方程中两个重要参数的标定方法。实测结果表明，用该方程可实现恒温测氧，且快速准确、方便实用，测量误差不大于０．０５％。     

ZrO2膜的相结构与显微组织

本文用X射线衍射和扫描电镜研究了ZrO2膜的晶体结构和显微组织。结果表明ZrO2膜的相结构为立方氧化锆（c-ZrO2），晶粒尺寸细微。发现ZrO2膜中存在具有{111}面织构柱状晶结构，这种结构可用基片负偏压消除。     

溶胶共沉淀法制备ZrO2超细粉末的工艺研究

采用正交试验方法研究了溶胶共沉淀法制备ＺｒＯ２－Ｙ２Ｏ３陶瓷粉末的工艺过程，对粉体进行了粒度，ＸＲＤ，ＳＥＭ观察，结果表明，对粉体粒度影响最大的是母液浓度，而母液温度则无明显影响，母液ｐＨ值不同影响ＺｒＯ２的晶体，正交试验优化出了用ＮＨ４ＨＣＯ３作为沉淀剂制备了ＺｒＯ２粉末的最佳工艺参数，即：母液浓度１．０ｍｏｌ／Ｌ，ｐＨ＝５～６事实表明，用此法制粉成本低，周期短，效率高。     

pH值对ZrO2粉体的收得率、晶体结构和粒度的影响

本文采用正交试验方法,研究了用ＮＨ４ＨＣＯ３作为沉淀剂的溶胶共沉淀法制备了ＺｒＯ２－Ｙ２Ｏ３陶瓷粉末时,溶液ＰＨ值对粉体的收得率、晶体结构、粒度的影响。结果表明ＰＨ＝５～６时,粉体平均收得率最高,发过９５％,ＰＨ＝４～５时,ＺｒＯ２粉体为单斜相结构,ＰＨ＝５时为四方相结构,而ＰＨ＝５～６时,大多数为四方相;ＰＨ＝４～％时,粉体平均粒径最小。     

ZrO2薄膜的X射线光电子能谱分析

用X射线光电子能谱（XPS）对自制ZrO2薄膜进行了成分分析,结果发现,在基片有负偏压的条件下,薄膜发生了氧缺位现象,退火处理可以补偿氧缺位,在膜表面存在一个Y的偏聚层,分析和讨论了这些现象产生的原因。     

奥贝球墨铸铁的强韧性

通过奥贝球铁的单调拉伸加载、接触疲劳和应变疲劳等宏观断裂规律和微观分析,探讨其强韧化机制。     

烟道用ZrO_2氧敏传感器测氧的仪表化方程

本文提出一个新的烟道氧敏传感器测氧的仪表化方程 ,并给出方程中两个重要参数的标定方法。实测结果表明 ,用该方程可实现恒温测氧 ,且快速准确、方便实用 ,测量误差不大于 0 .0 5%     

制备ZrO_2陶瓷粉末的液相合成法

探讨了制备ＺｒＯ2陶瓷粉末的主要液相方法,阐述了各种制备方法中的关键影响因素、主要工艺、工艺参数的选择,给出了一些重要定义及重要结论,为ＺｒＯ2粉末冶金的研究工作提供有价值的参考。     

ZrO_2膜的相结构与显微组织

用 X射线衍射和扫描电镜研究了 Zr O2 膜的晶体结构和显微组织。结果表明 Zr O2 膜的相结构为立方氧化锆 (c- Zr O2 ) ,晶粒尺寸细微。发现 Zr O2 膜中存在具有 (111)面织构的柱状晶结构 ,这种结构可在基片上加负偏压消除     

ZrO2薄膜的X射线光电子能谱分析

用X射线光电子能谱 (XPS)对自制ZrO2 薄膜进行了成分分析 .结果发现 ,在基片有负偏压的条件下 ,薄膜发生了氧缺位现象 ,退火处理可以补偿氧缺位 .在膜表面存在一个Y的偏聚层 .分析和讨论了这些现象产生的原因