平板电视标准及发展趋势

本文介绍了平板电视图像质量标准,以及讨论当前前沿的运动图像清晰度、高速接口以及内容保护等问题.     

LED等节能照明电器对电网的谐波损害及对策

本文定义了谐波及其产生原因,列举了谐波对电网产生的多种危害,测量了白炽灯、自镇流荧光灯和白光LED产生的电流谐波,最后提出了解决LED等节能电器向电网馈送谐波的对策。     

平板电视图像测量装置及计量体系

我国平板电视标准中涉及了多项图像质量参数,但都是以单色稳态白场的测量为基础的.本文讨论采用瞄点式光电倍增管型光谱辐射计实现了单色稳态白场的精确测量,并辅助以瞄点式亮度计、彩色分析虚拟仪器、二维平移台和二维转动台,实现了我国标准中主要图像质量相关项目的测量,同时建立了配套的以标准灯为核心的同时具有光度和色度量值传递能力的计量装置体系.     

相调制光谱椭偏仪校准研究

对相调制光谱椭偏仪进行了用户级别的校准,结合椭偏理论简要讨论了校准的原理,测试结果表明椭偏角准确度达到0.01°.探讨了人为造成的准直调节不一致性以及样品膜层的不均匀性对样品测量结果的影响.对热氧化硅样片测量结果进行了统计分析,该工作是进一步研究椭偏仪误差和校准方法以及阿伏加德罗常数项目硅球表面层研究的基础.     

液晶显示标准白场装置的建立和研究

介绍能够溯源到国家光谱辐射度、光度与色度基准的标准白场仪装置,可用于显示器光色特性参数测量.对该装置进行了表述,给出了其光谱、稳定性以及光色参数.应用该标准装置对主流的液晶显示器进行了视角研究,并考虑了测量过程中所忽略的被测发光面积因素对视角特性的影响.结果表明,基于绝对亮度的视角阈值方法,差别可达8％以上,这是测量过程中需要考虑和避免的.应用四色矩阵法,针对滤光片式色度计在检测液晶显示器色度、亮度中出现的校准问题进行了初步研究,对正确使用该方法进行相关校准具有借鉴意义.     

玻璃基底和表面粗糙度在氮化硅薄膜椭偏测量中的影响

在光谱椭偏测量中,玻璃基底的背反射会给测量结果造成较大影响。针对平板显示器件玻璃基底表面氮化硅镀膜进行了椭偏测量和模型计算。采用相干背反射模型“空气基底空气”计算并拟合得到与厂商数据符合较好的玻璃基底折射率。对氮化硅薄膜采用Tauc Lorentz色散模型进行了分析拟合,讨论了薄膜与基底界面层、表面粗糙度对光学常数及模型拟合的影响,表明在薄膜与基底间晶格失配的情况下,界面层的引入对改善拟合度是必要的。给出了薄膜体系的光学常数、薄膜结构的分析结果。     

两种不同类型的滤光片式彩色亮度计性能比较

显示器的色度和亮度可以通过彩色亮度计进行测量。小视场滤光片式彩色亮度计因其低成本在生产线上应用广泛,而近来出现的影像式彩色亮度计虽然也属滤光片式,但是由于其探测器不同而具有大视场,且结构、原理和性能与前者都有差异。量化比较这两类滤光片式彩色亮度计的性能,可以为影像式彩色亮度计的质量评估提供依据。文章分别选取两类滤光片式彩色亮度计中的代表型号,通过进行原理分析和实验验证进行对比分析。结果表明,影像式彩色亮度计的性能不低于小视场滤光片式彩色亮度计。     

百万像素胶体量子点中波红外焦平面阵列成像技术（特邀）

红外探测及成像具有广泛用途,在红外制导、夜视侦察、安防监控及危化品探测等方面发挥了重要作用。现有红外成像焦平面大多由碲镉汞、二类超晶格、锑化铟等块体半导体材料制成,通过倒装键合的方法实现块体材料与硅基读出电路的信号传输。倒装键合对准困难、操作复杂、对设备依赖性较强,难以满足焦平面阵列规模不断增加和像元尺寸不断减小的制备需求。为解决红外焦平面阵列规模提升的瓶颈,采用碲化汞胶体量子点,通过液相旋涂的方法,突破倒装键合限制,实现硅基读出电路直接片上集成。所制备焦平面阵列规模达1280×1024,像元间距为15μm,80 K工作温度下探测截止波长为4.8μm,响应非均匀性为9%,有效像元率为99.96%,最低噪声等效温差达30 mK,展现了良好的成像性能。     

ARH7-VxWorks的网络化实时彩色分析虚拟仪器

设计制作一种并行网络化实时彩色分析虚拟仪器。为实现高速测试系统互联，采用100M以太网和TCP／IP网络通信协议。设计思想的新颖之处在于在网络通信层达到资源共享，用通用ARM7TDMI内核的三星4510B通信系统板，完成复杂的数据封装等网络通信工作，并且用Vxworks嵌入式操作系统来增加系统的稳定性。最终实现3通道16位20kHz实时网络彩色分析，并通过测量显示器的刷新频率验证系统的正确性。     

粤语语音合成系统语料库设计研究

介绍了语料库设计的原理和过程,并结合粤语语音合成系统语料库实现,提出了“语境矢量”的独特设计和“语境总量”的概念,给出了语境总量的计算方法。最后介绍了Greedy算法,并给出了文奉语料搜索的具体流程。