半导和非半导性BaTiO_3陶瓷电声像衬度来源的差异

利用ＳＥＡＭ技术对半导和非半导性的ＢａＴｉＯ３陶瓷材料进行了电声成像观察研究．在半导性的这种材料电声成像中，由于掺杂的作用削弱和屏蔽了样品本身电学性能参数变化对电声像衬度的贡献，使得热波耦合机制起到主要作用；在非半导性的这种材料电声成像中，其电学性能参数的变化决定了电声像衬度的不同．     

铁电半导体陶瓷材料电声成像中电声信号的产生

本文利用扫描电声显微镜成像技术对铁电半导体陶瓷材料进行了无损成像观察和分析。通过对不同条件下获得的电声像的讨论，得出在这种材料的电声成像中，热波耦合机制和压电耦合机制对电声信号的产生均有着贡献，但热波耦合机制占主导地位。另外扫描电声显微镜在对材料的亚表面缺陷无损观察方面有着其它观察手段所无法比拟的优点。     

实时温场控制的电声信号检测

电声检测作为试样亚表面观察与成像的新技术,已成功地应用于无机材料、金属材料、半导体材料等领域,为研制与推广应用新材料、新器件提供了科学的依据,但这些检测都反映了试样的静态特性.如何检测试样在不同物理条件下的动态特性,尤其是在不同温度情况下的内部结构与性能的变化,更透彻地把握试样内在的规律,是当前的一项重要而艰巨的课题.本文应用带有温场控制的电声信号传感嚣对单晶材料进行实时温场控制的电声成像进行了研究,对电声信号检测工作具有参考价值.     

电声显微成像和应用

扫描电声显微镜(SEAM)是融现代电子光学技术、电声技术、压电传感技术、弱信号检测和脉冲图像处理以及计算机技术为一体的一种新型无损分析和显微成像工具。其成像机理是基于材料的微观热弹性能或者电学性能的变化，获取目前其他手段无法得到的信息。它可以原位(in situ)同时观察试样的二次电子像和电声像(SEAM)，兼有声学显微术非破坏性内部成像和电子显微术高分辨率快速成像的特点。本文重点阐述扫描电声显微镜的工作原理、结构和组成、电声显微成像的特点，以及电声成像的基本理论和影响分辨率的主要因素。并显示了扫描电声显微镜在观察功能晶体和陶瓷的电畴结构、金属材料的应力分布、半导体材料的缺陷和位错、MEMS器件的内部信息以及超导陶瓷的相变特性等方面的实际应用。为了和电声成像的实验结果进行比较，本文也介绍了在扫描探针显微镜基础上建立起来的扫描探针声学成像技术在电光陶瓷上的实际应用。     

纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜成像研究进展

扫描力显微镜(SFM)作为一种新型的超分辨率近场扫描探针显微仪器正日益受到各学科领域的高度重视.在铁电材料领域,SFM是开展纳米尺度铁电畴结构成像、纳米尺度畴结构控制及纳米尺度微区的铁电性、介电性、压电性等特性研究的潜在的强有力的研究工具.本文就纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜的成像原理的研究进展作一综述.     

弱信号检测技术在电声扫描显微镜研制中的应用

电声扫描显微镜是近年发展起来的一种新型检测成像工具。由于它的成像原理基于微观热学与弹性变化,因而它具有常规扫描显微镜无法比拟的优点:试样的非破坏性亚表面剖面成像。电声扫描显微镜也是高新技术结合的产物,它的产生也得力于弱信号检测技术的发展。本文简要介绍了电声扫描电镜的工作原理、结构及其应用,侧重介绍了弱信号检测技术在该仪器研制中的应用。     

扫描电声显微镜图像质量的提高

本文建立了数字电声像的采集装置。在扫描电声显微镜系统中采用了数字扫描发生器，代替了原来的模拟扫描发生器，从而实现由计算机控制电子束在试样上的扫描。通过数字图像处理，明显提高了电声像的信噪比，改善了电声像的质量。新系统还可以方便地对电场的像进行优化、储存和打印处理。     

扫描电声显微镜中干扰信号及假信号的预防

本文对扫描电声显微镜电声成像中出现的干扰信号以及假?信号的产生进行了讨论. 指出扫描电声显微镜设备周围存在的高强度电场、磁?场、高频设备和仪器本身的接地是造成干扰信号出现的主要原因, 同时给出了一种能有效防止以上干扰的样品---探测器组件结构. 而在电声像中假信号产生?的原因则主要是由于样品和探测器接地不当所引起. 在进行电声成像观察和记?录时最好关掉电镜的对比度旋钮.     

改善电声信号检测噪比的若干问题讨论

简述了近年来新发展的一种显微成象仪器－扫描电声显微镜，并着重了在信号检测过程中，通过在仿真工作条件下采用的一系列措施，优化传感器参数选择；加强信号耦合传输，避免引入干扰；运用计算机技术，增强数据处理能力等，因而改善了信号检测的信噪比，提高了电声成象的质量。     

利用原子力显微镜低频声学模式观察氧化锌压敏电阻

介绍在商用原子力显微镜上建立的低频声学成像模式,并利用其对氧化锌压敏电阻陶瓷晶界处进行了弹性性能成像.声学像中晶界处微晶的衬度反映了添加物的分布.而晶界处的衬度增强现象可能说明样品经热处理后发生富铋相的相变.结果显示低频声成像的分辨率达到了纳米量级,在功能材料的微区力学性能表征方面具有良好的应用前景.