Zr/Nb薄膜材料的制备及界面结构研究

通过直流磁控溅射法在单晶Si(100)基底上制备了Zr/Nb/Si薄膜材料。X射线衍射(XRD)研究表明Zr薄膜以多晶形式存在,而Nb薄膜则形成了(110)晶面择优生长。薄膜中Zr和Nb晶粒大小分别为14,6 nm。扫描电镜研究表明形成的薄膜表面平整光滑,没有微裂纹存在。扫描俄歇电子能谱及X射线光电子能谱的研究表明,Zr/Nb/Si薄膜样品具有清晰的界面结构。在薄膜表面形成了致密的氧化层物种,而在膜层内部少量氧则以吸附态形式存在。     

稻瘟灵原药的气相色谱分析

采用气相色谱定量分析稻瘟灵原药中的有效成分,色谱条件如下:SP-2000型气相色谱仪,2.0 m×2.0 mm不锈钢柱,柱内填充物为5%SE-30/Chromosorb W-HP(0.18～0.25 mm),FID检测器,以邻苯二甲酸二丁酯为内标物.结果表明,线性相关系数为0.9992、标准偏差为0.45、变异系数为0.38%、样品的平均回收率为98.65%.该法简单、快速、准确,已成功地用于稻瘟灵原药的定量分析.     

正交法优选废弃全氟磺酸离子膜化学再生工艺研究

采用L16(45)正交法研究了酸的浓度等五个因素对废弃全氟磺酸离子膜化学再生效果的影响。实验表明,盐酸浓度为15%～20%,水浴温度为60℃,浸泡时间为12～24 h,超声时间为1～2 h,EDTA浓度为0.2 mol/L条件下,离子膜中杂质元素被基本除去,离子膜离子交换容量(IEC)可恢复到新膜的80%～90%。电子显微镜扫描结果显示,离子膜羧酸层孔洞较多,直接回用会因OH-反渗降低电流效率,需要加以修复才能利用。     

电石渣两步法制备轻质碳酸钙的研究

以电石渣为原料,通过除渣预处理和气-液间歇碳化2个过程制备高纯度、高白度轻质碳酸钙。通过实验研究了浸取、沉淀等工艺的过程特性,探讨了电石渣、氯化铵、水的质量分数和反应温度、搅拌速率等工艺参数对电石渣转化率和产品性能的影响,并确定最佳工艺条件。研究表明,电石渣经浸取后不溶性杂质与金属离子杂质都被除去,电石渣转化率为84.3%,所得碳酸钙产品纯度大于98%,白度为96度,符合HG/T 2226—2000优等品指标要求。