首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   5篇
  免费   0篇
机械仪表   1篇
一般工业技术   4篇
  2016年   2篇
  2014年   1篇
  2010年   1篇
  2004年   1篇
排序方式: 共有5条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1
1.
本文主要针对光学量块比较仪自动化改造的现状,提出了利用计算机分析所采集的干涉图,根据所有像素信息,直接提取0级干涉暗纹的位置,并对单色光干涉的多条等厚干涉纹的光强分布进行计算机数值处理,自动进行定标的技术。  相似文献   
2.
多齿分度台分度误差检定系统的智能化改造   总被引:4,自引:1,他引:4  
本文介绍了在WINDOWS环境下,用Visual Basic 6.0提供的通讯控件实现光电自准直仪与微机间的通讯,在检定多齿分度台的分度误差时,可实现测量数据的自动采集和测量结果的自动计算和打印。  相似文献   
3.
张勇  王时礼 《机电技术》2010,33(1):135-137
本文对结合串口数据通信与EXCEL表格这一实用有效的自动采集数据技术进行了介绍,说明采用VC++编程语言对DA400自准直仪按全组合法检多齿台自动采样的实例。  相似文献   
4.
用于测量复杂零件内部尺寸的X射线坐标测量机,弥补了坐标测量机等传统测量仪器只能对外部尺寸进行精密测量的先天不足,已广泛应用于高端制造业。针对目前我国还没有X射线坐标测量机相应的标准器和校准规范,对其计量特性缺少可靠的评价方法,本文设计了校准其长度测量误差的球板标准器(U=0.3μm~0.5μm,k=2),确保其量值能溯源到国家基准。分析了采用该标准器校准蔡司X射线坐标测量机长度测量误差的不确定度。  相似文献   
5.
金属镀层厚度测量结果的一致性研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用带有特殊台阶构造的Cr/Ni类型实验样品,分别采用X射线光谱法、轮廓法和截面法进行表面镀层厚度的测量,对三种方法测量结果的一致性问题进行探讨。实验结果表明,X射线光谱法的镀层厚度测量值较其它两种方法明显偏小,相对偏差甚至超过50%。由于利用X荧光测厚仪进行分析时未考虑实际样品与校准工作曲线用标准厚度片的密度差异,因此导致镀层厚度的测量值出现较大偏差。考虑到工业实际上目前普遍利用商品化标准厚度片进行X荧光测厚仪的校准,提出应对该类仪器现有计量校准体系做进一步研究。  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号