脉冲压裂技术探索

从脉冲压裂技术的作用本质出发,剖析了脉冲压裂的技术特征及其与常规压裂技术的区别,开展了脉冲压裂形成的裂缝模型的初步建构,结合现场实验井对脉冲压裂设计参数中的纤维浓度、脉冲时间、支撑裂缝特征以及对储层的适应性进行了分析评价,意在从本质上探寻该技术的作用本质和压裂设计参数的内在关联。通过以上的模型分析、现场实践与室内实验评价,初步建立了脉冲压裂重点设计参数的优化方法,筛选出了适应于脉冲压裂的压裂液与纤维材料。通过分析研究得出的结论可为脉冲压裂设计提供重要的技术参考。     

VM电路及其故障检修(下)

(3)VM信号输出幅度过小常见的原因有:V701特性变差、V701直流偏置不当、负载故障以及退耦电路不良等。检修:首先检查C707的电压,若低于10V,则查C707和C712,看是否漏电严重?查R714看是否阻值变大?更换不良的元件;其次,检查V701各极电压,看是否有严重偏离正常值的情形?有则查相应的偏置电路,查找不良的元件,更换之,最后检查V701的放大能力,若不良,则更换之。     

VM电路及其故障检修(上)

一、VM电路及其技术进步 VM电路是动态电子束扫描速度调制电路(Dynamic Scar Velocity Modulator)的简称,是一种新型的图像轮廓校正电路。与传统的图像轮廓校正电路相比较,其有明显的技术进步。传统的图像轮廓校正电路是对亮度(图像)信号Y进行二次微分,取出图像轮廓校正信号M,再经放大、反相并与原图像(亮度)信号Y相加来达到对图像轮     

正交实验优化ZrO2包覆钛白粉工艺研究

采用L9(34)正交实验优化实验方案,以六偏磷酸钠(SHMP)为分散剂,滴加速率、分散剂用量、包膜量、体系pH值作为实验变量,研究ZrO2包覆对金红型石钛白粉性能的影响。通过Nano-zs电位仪(zeta)、扫描电子显微镜(SEM)、傅里叶红外(FT-IR)、透射电子显微镜(TEM)、物理漆膜紫外老化实验的检测,对金红石钛白粉包覆前后的性能进行比较,得到ZrO2包覆的优化试验条件。结果表明,其在滴液速率为5滴/min,分散剂的用量为0.1%,包膜量为2%,体系pH值为8.5～9.0条件下,经过包膜过后的金红石型钛白粉化学性质稳定,能有效屏蔽其光化学活性,其吸附性、分散性、耐候性较好。