低能电子点源显微镜的研制及初步实验结果

研制了一台集低能电子点源显微镜和场发射显微镜于一体的设备。研制的过程中，解决了包括超高真空的获得，外界振动的隔离，爬行器及其控制电路的设计，场发射电流-电压自动测量，超高真空换样等一系列问题。利用该设备，获得了放大倍数大于10^4的投影像，并且测量了单根多壁碳纳米管的场发射特性。     

ZhT-1301型质谱计磁扫描装置的改进

ZhT-1301型质谱计的磁扫描装置只能进行单方向(我们定义这个方向为正向)的扫描,这对需要通过质谱图形取得数据的分析工作带来一定的困难。在这些分析工作中,一则由于样品离化的不稳定和离子流放大器反应时间较长,使大峰拖尾影响小峰,二则由于其它不稳定因素使谱峰不稳定,这都造成质谱峰高度测不准。如果磁扫描装置能够提供正、反两     

飞行时间质谱计的研究

本文详细分析了影响仪器分辨本领和灵敏度的因素,计算了各种因素的影响,并在此基础上选定了仪器的主要参量。研制结果表明上述分析是正确的。本仪器飞行距离D=100厘米,采用微通道板作为离子探测器,分辨本领最佳为500。     

用于制备金属超微粒子-有机薄膜的离子团束(ICB)镀-飞行时间质谱(TOFMS)系统

本文描述了离子团束(ICB)镀薄膜装置与飞行时间质谱计(TOFMS)联合系统的研制,此系统不仅可以制备无机材料和有机聚合物薄膜而且还能制备金属超微粒子-有机聚合物薄膜。用TOFMS可对ICB镀的成膜过程进行原位分析和监控。对该系统中TOFMS部分的分辨本领和灵敏度进行了测试:选定质荷比为149的谱峰,得到该质谱计的分辨本领为165;该质谱计对Ar~(40)的最小可检分压强为4.0×10~(-6)Pa。本文也给出了ICB沉积聚乙烯薄膜的飞行时间质谱及其初步分析。     

一种新型微区高灵敏分析装置—溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱计

本文介绍了我们自行设计研制的一种新型微区微量成份分析装置——溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱计(SIRI—TOFMS)。这一新型仪器的特点是:高灵敏,高选择性,适用范围广以及基体效应小等,可以实现复杂样品微区微量成份的定量分析。用本仪器对AuCu合金中的Au进行了分析测试,获得Au的极限灵敏度为5×10~(-8),质量分辩本领为400。