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本文主要介绍半导体器件缺陷与噪声的关系。根据噪声电子学的知识和低频噪声检测半导体器件缺陷理论及其在实际中的应用,从原理上分析器件缺陷所引发的电路故障与噪声特性参数关系,通过对输出噪声特性参数的分析和处理达到诊断电路故障。 相似文献
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