金属基极紫外光刻胶

由于具有光源波长短（13.5 nm）、图案化分辨率高等优点,极紫外（extreme ultraviolet, EUV）光刻技术被认为是突破5 nm甚至是3 nm半导体芯片制程节点的关键技术,与之相对应的EUV光刻胶研发广受关注。但传统的基于聚合物体系的化学放大光刻胶（chemical amplified resist, CAR）因尺寸过大、对EUV吸收低,限制了其在EUV光刻技术的应用进程。部分含有d轨道电子的金属元素具有高的EUV吸收截面,在光刻胶分子中引入这些金属元素可以有效提高对EUV的灵敏度。通过分子设计制备尺寸小、EUV吸收高的金属基光刻胶材料是解决EUV光刻胶服役性能问题的有效途径,已得到了广泛的研究。本文按金属氧簇（MOCs）、金属氧化物纳米粒子（NP）、金属-有机小分子（MORE）进行分类,对目前国内外的EUV光刻胶研究进展进行总结,并对EUV光刻胶未来所面临的机遇和挑战进行了展望。     

金属基极紫外光刻胶

由于具有光源波长短（13.5 nm）、图案化分辨率高等优点,极紫外（extreme ultraviolet, EUV）光刻技术被认为是突破5 nm甚至是3 nm半导体芯片制程节点的关键技术,与之相对应的EUV光刻胶研发广受关注。但传统的基于聚合物体系的化学放大光刻胶（chemical amplified resist, CAR）因尺寸过大、对EUV吸收低,限制了其在EUV光刻技术的应用进程。部分含有d轨道电子的金属元素具有高的EUV吸收截面,在光刻胶分子中引入这些金属元素可以有效提高对EUV的灵敏度。通过分子设计制备尺寸小、EUV吸收高的金属基光刻胶材料是解决EUV光刻胶服役性能问题的有效途径,已得到了广泛的研究。本文按金属氧簇（MOCs）、金属氧化物纳米粒子（NP）、金属-有机小分子（MORE）进行分类,对目前国内外的EUV光刻胶研究进展进行总结,并对EUV光刻胶未来所面临的机遇和挑战进行了展望。     

彩色光刻胶用蒽醌染料的合成及稳定性研究

为实现彩色滤光片更高分辨率的发展需求，作为关键原材料的彩色光刻胶着色剂从颜料向染料体系转变是重要的趋势。然而染料分子的光热稳定性较差，亟需从分子结构方面探索提升稳定性的有效策略。以1,4,9,10-蒽四醇为原料，合成了9种1,4-二氨基取代的蓝色蒽醌染料分子，探索了不同取代基对染料分子光物理性质、溶解性以及光热稳定性的影响。结果表明，所有染料分子在590~600 nm和630~650 nm波长范围内呈现双吸收峰性质，具有高的摩尔消光系数。其中三甘醇及单甲醚取代的染料分子热分解温度为300℃，在230℃加热0.5 h后失重约2%，365 nm波长光照射8 h后色差低于1.73，表现出优异的光热稳定性。研究为进一步制备光热稳定性优异的彩色光刻胶用染料分子奠定了基础。     

用于EUV图案化的新型氧化锌簇交联策略的辐射化学（英文）

由于C=C双键交联反应机制的成熟,金属氧化物光刻胶得到了广泛的发展.然而,由于不稳定的C=C双键,这种材料需要低温和遮光存储.在此,首次在金属氧簇中提出了C-F键交联策略用于光刻图案化.以光刻胶Zn-TBA为例,它形成光滑无缺陷的薄膜,且表面粗糙度R_q小于0.2 nm.使用极紫外(EUV)干涉掩模,在65 mJ cm^-2曝光剂量下形成37.5 nm的半周期(HP)图案.在EUV曝光和正己烷显影后,通过原子力显微镜(AFM)观察到负性光刻胶形貌.重要的是,Zn-TBA可以在室温和明亮的环境中储存.除了脱羧之外,我们还提出光引发的C-F交联是Zn-TBA图案的主要贡献者,并通过高分辨率X射线光电子能谱(HRXPS)和密度泛函理论(DFT)计算得以证明.这种新颖的光刻机制为下一代金属基材料的设计提供了新的思路.