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1.
2.
基于OEM-2100的机动车道路排放试验与分析 总被引:1,自引:0,他引:1
利用OEM-2100(车载排放测试)系统收集了爱丽舍车在实际道路上运行的实时排放数据,分析了四种主要排放污染物NOx,HC,CO和CO2的排放率与机动车速度、加速度和VSP(Vehicle Specific Power)的关系,结果显示VSP参数比速度、加速度与排放值密切相关,能更好地反映车辆在道路上的实际排放水平. 相似文献
3.
随着武器装备的不断发展,对弹药能量和安全性的要求也越来越高,传统TNT基熔铸炸药存在易损性差、长期储存渗油、爆轰性能不理想等缺点,已不能满足当前不敏感弹药的发展要求;因此,研究炸药的新型载体是当前熔铸炸药发展的一个重要方向。3,4-二硝基吡唑(DNP)是一种新型的熔铸炸药载体。根据国内外的相关报道,阐述了DNP的合成方法、基本性能、机械感度、热安全性、相容性、应用性等研究发展现状。研究结果表明:目前,经N-硝化、热重排、C-硝化三步法合成DNP的工艺更加稳定,得率较高;DNP的熔点为86.5 ℃,理论密度为1.87 g/cm3,实测爆速为7 633 m/s(ρ=1.65 g/cm3),爆热为4 326 kJ/kg,理论爆压为28.7 GPa;DNP的机械感度与TNT相当,具有较好的机械安全性;DNP热分解分两个阶段,第一阶段分解放热峰为319.8 ℃,第二阶段分解放热峰为407.2 ℃,与TNT和DNTF相比,DNP的热分解峰温高,热安定性好;DNP与RDX、HMX、CL-20、Al、AP、微晶蜡具有较好的相容性,可以与这些组分组成混合炸药,具有广泛的适用性。 相似文献
4.
场景非均匀校正和基于本底信息无快门校正等红外图像自适应非均匀性无快门校正算法不需要中断探测过程,克服了定标类校正算法需要周期性定标的不足,目前日趋受到重视。相对于场景无快门校正算法,基于本底信息的自适应无快门校正算法具有复杂度低、易于实现的特点,正逐步从理论研究走向具体工程应用,通过硬件系统实现该校正算法具有重要的应用价值。根据自适应无快门校正算法理论特点,采用基于FPGA构建SOPC系统的方法进行了硬件实现,主要由校正参数计算、本底采集、校正模型等模块组成。校正参数计算部分根据自适应拉格朗日插值计算和更新校正参数,本底采集模块用于采集均匀本底信息,为图像校正提供一系列本底信息,校正模块完成红外图像的实时非均匀性校正。实验结果表明:实现的非均匀性无快门校正系统具有占用硬件资源少、延迟短和图像效果好的优点,能够广泛应用在红外成像系统中,具有较强的研究价值和现实意义。 相似文献
5.
目的 提高ZrB2/SiC涂层的致密性及抗氧化烧蚀能力。方法 设计向ZrB2/SiC涂层中掺杂TaSi2,以提升ZrB2/SiC涂层的致密度和抗氧化性能。首先通过喷雾造粒法制备了4种不同成分配比的复合团聚粉,然后采用大气等离子喷涂(APS)在C/C基体表面制备了4种团聚粉复合涂层,最后使用氧-乙炔火焰法对所制备的涂层进行了烧蚀考核。结果 通过涂层致密度对比发现,随着TaSi2的增加,涂层共晶区会有所增加,涂层致密度得到了明显改善。通过烧蚀考核发现,TaSi2的加入能够增加SiO2的含量,并产生热稳定性好的TaZr2.75O8。此外致密TaZr2.75O8的产生还能够有效改善涂层的抗氧化烧蚀性能。结论 最终得出的ZrB2/SiC涂层硅化物掺杂改性方案为30%TaSi2/42%ZrB2/28%SiC(体积分数)大气等离子喷涂制备的抗氧化烧蚀涂层,其在1 600 ℃烧蚀5 min后的质量损失率为‒1.70×10‒4 g/s。 相似文献
6.
本文简述了磁制冷的基本原理,分析磁制冷工质的熵特性,总结了近几年磁制冷材料的最新进展,对磁制冷材料未来的发展进行了展望。 相似文献
7.
8.
对18种炸药分子采用密度泛函DFT-BHand HLYP/6-311G**方法进行优化及能量频率的计算,对计算出的活化能及静电势及其参数进行分析,发现其对撞击感度有很大的影响。本文首先对这18种炸药分子的活化能与实验撞击感度建立线性关系,发现Ea在250-400k J/mol范围内时,H50随着E_a的增加而增加,整体呈现正相关关系。随后对这18种炸药进行分类,分别为硝铵类、杂环类、三硝基芳香族类炸药化合物。分别对这三类炸药分子的实验撞击感度H_(50)与其各自的活化能、表面静电势建立定量关系,结果发现其相关系数很大(0.90+)。此研究结果为预估炸药分子的撞击感度值提供了一定的理论依据和研究意义。 相似文献
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10.
用B样条函数对S形弯曲波导进行结构优化 总被引:2,自引:0,他引:2
S形弯曲波导是集成光器件中不可缺少的部分。在光开关阵列、星形耦合器以及阵列波导光栅等器件中。以及将多个元件集成到一个芯片上时,都需要很多的S形弯曲波导来实现波导的侧向位移和连接。其尺寸和损耗直接影响整个器件的损耗以及集成密度。弯曲波导插入损耗(不包括由于结构缺陷而产生的光的散射损耗)由两部分组成:纯弯曲损耗和过渡损耗。从弯曲损耗产生的机理人手,提出用B样条泛函逼近理论实现任意边界条件下S形的优化方法,得到纯弯曲损耗尽可能小,并消除与直波导相连处过渡损耗的S形波导。且与正弦、余弦和双圆弧曲线得到的S形进行对比,用光束传播法验证。结果表明优化曲线插入损耗明显小于双圆弧和余弦曲线。 相似文献