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纳米SiC表面接枝修饰的XPS研究 总被引：6，自引：0，他引：6
聚合物在纳米粒子表面接枝后,可在其表面建立起空间位阻稳定层,提高纳米粒子的分散稳定性及其与树脂基体的相容性.本文采用缩聚法在纳米SiC表面接枝了聚缩醛,X射线光电子能谱(XPS)的分析结果表明,经过聚缩醛接枝改性的纳米SiC表面Si2p峰明显降低,而C1s峰和O1s峰明显地增长,对C1s、Si2p峰精细扫描及分峰拟合表明,纳米SiC表面碳元素中有38.4%属于接枝物聚缩醛的有机碳,而79.8%的Si元素结合能增加了2.5eV,由此表明,纳米SiC表面形成了良好的表面修饰层,接枝物聚缩醛以化学键结合于纳米SiC表面;对比XPS和热失重分析(TG)的数据结果,可以推测,聚缩醛主要分布在纳米SiC的表面,而在体相中独立存在的几率较小. 相似文献
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