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魏向荣 《电子工业专用设备》1991,20(3):43-47
<正> 概 述 在大规模集成电路生产中,自动对准技术是极其关键的一项技术,它主要解决IC生产中的图形刻套问题,以提高产品成品率及生产效率。该技术是西方发达国家对我国微电子工业发展实行技术封锁与控制的重点,也是自七十年代初至今这二十余年来严重困扰和阻碍我国集成电路制造与发展的一项久攻未破的老大难问题。我所作为我国专门从 相似文献
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分析讨论多变量相关分析方法在入侵检测中的效应,并提出一个协方差分析的模型,用来检测DDoS攻击.结果显示,与其他同类方法相比,该模型在检测不同强度的DDoS攻击上有更高的精确度. 相似文献
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制作了一具传导控温的石英晶体微量天平,改进了晶体支架结构,保证了稳定控温及在低温下运用。 相似文献
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