稀土燃致伸缩材料的X射线荧光光谱分析

采用纯物质的标准溶液配制标准样品，制成含分析元素的混合标准溶液，加入内标后取标准 滴加到滤纸上进行了干燥，以此为分析标准测定分析线与内标线的强度比，相对于分析元素含量绘制校准曲线。     

钛白中铝、硅的X射线荧光光谱测定

拟定了用熔融法制片、PW1400X射线荧光光谱仪测定钛白中铝、硅的分析方法。制样手续虽较常用的粉末直接压片麻烦,但可消除试样与人工合成粉末标准在粒度、结构等方面存在的明显差别,保证了分析的准确度。对SiO_2、Al_2O_3的测定下限均为0.1％,上限分别为5％和7％。含有3％Al_2O_3、2％SiO_2的试样的统计方法精密度,其变异系数均约为2％;加料回收率为90～110％。     

XRF光谱法测定混合稀土中15个稀土分量

用 1 5个稀土元素纯氧化物为标准参考物 ,以Li2 B4O7为熔剂制成熔融片 ,根据“表观浓度”理论建立了一种简易的混合稀土无标定量分析方法。用不含分析元素的 1 4个稀土元素熔片及试剂空白片为零点 ,以 1 0 0 %含量或其它含量的分析元素熔片为高含量点 ,建立校准曲线 ,用DeJongh模式计算理论α系数 ,用回归法计算谱线重叠校正系数 ,以校正共存元素的吸收 -增强效应和谱线重叠影响。用若干试样考察了该方法的适用范围和分析结果的准确度 ,试验表明 ,所得的分析结果能满足定量分析的要求。     

非钌金属阳极涂层组分的X射线荧光光谱法快速定量测定

一、前言金属阳极涂层组分测试,国外曾见有采用破坏涂层的原子吸收光谱法,及用机械方法剥落涂层再进行涂层组分和结构分析的X射线分析方法。本文由Birks导出的X射线荧光激发的基本理论公式推得在薄层样品中i元素的X射线强度Ⅰ:与涂层中该元素     

多元体系铂饰品校正样品的研制及在X射线荧光无损检测中应用

研制了成分为Pt,Pd,Au,Ag,Cu,Zn,Ni,Co的多元体系的铂饰校正样品,并用于多元体系铂饰品的X射线荧光光谱无损检测,结果令人满意。测量结果误差<1.0%,符合GB/T18043-2000国家标准规定的允许差,方法RSD小于3.0%。     

稀土磁致伸缩材料的X射线荧光光谱分析

采用纯物质的标准溶液配制标准样品, 制成含分析元素的混合标准溶液, 加入内标后取标准液滴加到滤纸上进行干燥, 以此为分析标样测定分析线与内标线的强度比,相对于分析元素含量绘制校准曲线。方法重现性好, 分析速度快, 相对误差为１ ％ , 可满足工艺研究的要求。     

X 射线荧光光谱经验系数法分析十五个稀土混合氧化物

本文拟定了用粉末稀释直接压片测定混合稀土氧化物中十五个稀土元素的X射线荧光光谱经验系数方法。详细调查了共存元素间的影响并提出了为消除这些影响求经验系数的一般原则,共求出200多个经验系数,由计算机进行校正。修改并增加了若干数据处理子程序。分析速度比无计算机的原单道谱仪快5～6倍,六个试样的全分析约需5小时。方法对各元素的测定下限均为0.5％,上限则为5％～70％。精密度为:含量<5％时变异系数<5％;含量>5％时变异系数为1～2％。