排序方式: 共有21条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1.
扫描电镜背散射装置及数据处理系统 总被引:1,自引:1,他引:0
电子背散射衍射装置是获取材料的亚微米的范畴晶体学信息扫描电镜附件,此装置在观察材料的形貌及分析成分的同时研究材料的取向关系。本文介绍了背散射衍射接收系统,该系统的CCD以快速方式接收的灵 为5mlux,积累方式接收的灵敏度为10μlux,分辨率为512dpi,扫描卡最高的分辨率为4096X4096。并成功地安装在北京有色金属研究总院JSM-840扫描电镜上,此系统设计合理,结构简单,操作方便安全。同时根据Hough变换的原理,编写了识别电子背散射衍射花样的软件,实现了全自动实时识别此花样,给出相应的数据。 相似文献
2.
3.
Al—Si 合金在热处理时发生共晶 Si 的粒状化。在 TAS 上测试了共晶 Si 平均颗粒长度 L、平均颗粒宽度 W、平均颗粒长宽比 AR、平均颗粒面积■及颗粒形状系数■几个参数以及共晶 Si 颗粒长度分布和最大颗粒长度。结果表明,用■、■、AR、■、SF 五个参数来描述共晶 Si 的粒状亿过程及铸态组织对粒状化过程的影响是有效的:可以用■来划分共晶 Si的粒状化过程的两个阶段,根据 L 曲线的走向还可以判断共晶 Si 的液态生长形态;AR 能反映共晶 Si 的粒化程度,SF 则是共晶 Si 粒状化圆整程度的量度,但对于描述共晶 Si 的粒状化来说,AR 比 SF 更确切;从 W 与 A 的变化可以看到共晶 Si 在粒状化的同时伴随有粗化。共晶 Si 颗粒长度呈非正态分布,最大颗粒长度是随机结果,它们都不能反映共晶 Si 粒状化过程的行为。 相似文献
4.
5.
JEM 2 0 0 0FX透射电镜 (TEM)在使用时经常出现电子束闪动 ,经过检修 ,更换了JEM 2 0 0 0FX电镜加速管分压电阻、灯丝 ,清除了高压电缆接入端等处的放电痕迹并将拆开的所有部件做了彻底清洗 ,最终排除了电子束闪动故障。分析全部检修过程可知 ,暗电流增加为加速管分压电阻阻值减小所致 ,在检修过程中发现有多处放电痕迹 ,说明存在系统放电现象 ,这势必导致整个电路电流 (包括灯丝电流 )的不稳定。故障现象 :据使用者反映 ,JEM 2 0 0 0FX透射电镜 (TEM)在使用时电子束经常闪动 ,即使在 1 2 0kV电压下使用电子束闪动也… 相似文献
6.
7.
8.
9.
8月31日晚9时许,临泽县平川乡三二村九社农民刘成家后院突然起火。无情的大火烧毁刘家的草房、圈棚和麦草4千多斤、麦糠5千多斤及部分木料、农具等物,经济损失一千余元。 相似文献
10.