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在以石墨为导体的火花源质谱法测定地质样品中的痕量稀土元素时,由于钡和稀土元素产生的氧化物,碳化物离子谱线迭加在稀土元素谱线上,从而影响分析结果。本文对消除这种干扰的数学校正法进行了讨论。这种校正法是通过解单次曝光谱线强度值所组成的方程组而实现的。这种方法已用地质矿产部的地质标样进行了核对。 相似文献
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本文介绍了以石墨为导电基体,以Lu为内标元素,采用火花源质谱法分析地质样品中的U、Th、Bi、Tl、Hf、W、Ba、Cs、Sb、Sn、Mo、Zr、Nb、Y等14种痕量元素的方法。通过分析玄武岩标样BCR-1和人工合成标样求出了上述元素的相对灵敏度因数。对干扰进行了校正。平均相对标准偏差为20%。 相似文献
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引言能量色散X射线荧光光谱分析(EDXRF)有良好的适应性,能直接分析各种类型样品,如固体、粉末、液体试样,检测范围宽,无论常量元素或痕量元素(μg/g级)分析,特别是筛分分析的应用,能快速进行各类试样快速定性和半定量分析。近年来EDXRF又有了新的进展,主要是新的Si 相似文献
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偏振激发能量色散X 射线荧光光谱(P-EDXRF)技术是20 世纪末出现的新分析技术。国内采用X -Lab2000 型仪器的初步研究表明,在总计数时间为600 秒时,可以对近 30 种元素进行定量,检出限为 0.5 -30 μg/g ,与国际上发表的文献值基本一致。本工作通过约 100 个实际样品分析,并与波长色散 X 射线荧光法(WDXRF)分析结果的比较,对 P-EDXRF 的分析性能进行了评价。与 WDXRF 相比,P-EDXRF 法具有分析速度快、设备购置费用低、运行成本低、全谱同时采集(有利于发现元素含量异常)等优点,因此特别适合地球化学填图样品的快速分析。而 W D X R F 在精度要求较高的分析中更具竞争力。 相似文献
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基本参数X射线荧光光谱法分析贵金属合金样品 总被引:3,自引:0,他引:3
基本参数法具有校准元素间的相互影响的功能,同时由于在其浓度归一化的过程中能够消去测量面积和探测立体角项,因此具有校正样品测量面积和形状影响的能力,十分适于贵金属合金及其饰物的分析。本文报道用R Ⅸ 2100型X射线荧光光谱仪分析贵金属合金及其饰物样品的方法。实验表明,通过选择适当的测量谱线和背景测量角度,并将邻近谱线对测量谱线背景的影响作为谱线重叠处理,可以确保分析的准确度。同一样品不同测量面积下得到的分析值的一致性良好;形状与标准样相差很大的实际样品的分析结果也令人满意。用不同样品各进行8次重复分析得到的各元素的分析精密度(RSD%)分别为:Au(96.99%)=0.02,Au(75.00%)=0.04;Ag(1.02%)=1.48,Ag(8.96%)=0.35;Cu(1.00%)=0.83,Cu(15.97%)=0.15;Zn(1.01%)=0.70;Pt(80.00%)=0.03;Pd(19.92%)=0.17;Ni(99.99%)=0.004。 相似文献
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水泥生料的偏振化能量色散X射线荧光光谱分析 总被引:1,自引:0,他引:1
引言能量色散X射线荧光光谱分析(EDXRF)有良好的适应性,能直接分析各种类型样品,如固体、粉末、液体试样,检测范围宽,无论常量元素或痕量元素(μg/g级)分析,特别是筛分分析的应用,能快速进行各类试样快速定性和半定量分析。近年来EDCRF又有了新的进展,主要是新的Si漂移探测器应用稳定二级Peltier冷却系统,免除了使用液氮冷却的麻烦,其Mnka线测量计数率在104脉冲计数时,能量分辨率为<17eV。Xepos仪器还应用了偏振X射线,大大降低了轻基体的散射背景,从而降低了元素的检出限,大大提高了试样的信噪比。R.Schramm使用了新的散射晶体HOPG (High Oriented Py-rolite Graphite)使轻元素分析得到了进一步改善。本文采用石蜡(HWC)为粘结剂压制样品,HOPG为次级靶分析了水泥生料中Na2O至Fe2O3等8个元素。 相似文献
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