X线荧光光谱法测定中低合金钢组分

介绍了X荧光光谱法对中低合金钢中Si、Mn、P、S、As、Ti、Ni和Cr8种化学成分的分析方法。选用国家标准样品建立工作曲线,利用经验系数法进行基体校正,谱线重叠校正、基体干扰校正等。结果采用国标样品标准值进行验证,并与火花源原子发射光谱法分析结果进行比较;实验证明,相对标准偏差均<2%,准确度在允许偏差范围内,方法可靠性满足生产需求。加强了与直读光谱之间的比对实验,弥补了直读光谱维修期间的分析工作。     

X射线荧光光谱法测定生铁块中杂质元素

应用荧光光谱仪分析生铁块中Si、Mn、P、S、As、Ti。该分析方法简便、快速,结果较为满意,适用于炼钢生产过程中的在线分析和质量控制。     

分光光度法测定外购生铁中砷的含量

介绍了砷锑钼蓝光度法测定外购生铁中砷含量,在现有分析方法上加以改进,在称样之前将生铁粉在高温马弗炉内灼烧1 h左右除去C。之后,对溶样温度控制范围在200℃左右,溶样过程的冒烟时间进行了实验和比较,并研究了抗坏血酸保存时间对测定结果的影响,确定了线性范围和测定检出限,将其它方法定值过的样品与测定结果进行比较,证明方法可行。通过实验,本方法的准确率在国家标准范围内,砷的相对标准偏差〈4%,适用于外购生铁中砷含量的测定。     

碱熔-氟硅酸钾容量法测定钒钛高炉渣中二氧化硅的含量

根据氟硅酸钾沉淀分离-酸碱滴定原理,通过选择适当试剂、控制溶液酸度及恒定沉淀温度等措施,消除TiO2及Al2O3的共沉淀的干扰,探索出一种改进型碱熔氟硅酸钾沉淀测定钒钛高炉渣中TiO2的方法。该方法准确度在国家标准范围内,相对标准偏差RSD1%,是一种可靠的测定钒钛高炉渣中TiO2含量的分析方法。     

压片制样-X射线荧光光谱法测定高磷钢渣组分

介绍了粉末压片制样-X荧光光谱法测定炼钢转炉高磷渣中TFe、SiO₂、CaO、MgO、Al₂O_3、MnO、P₂O₅、TiO₂和V₂O₅9种主要组分的方法, 探讨了样品保存方式对氧化钙测定结果的影响。实验表明选择用密封袋保存样品压片可以克服其在放置中氧化钙测定结果的偏低问题。通过选择压片制样的最佳条件减少矿物效应和粒度效应对分析结果造成的偏差, 利用经验系数法进行基体效应、谱线重叠干扰和基体干扰的校正, 实际样品的9种主要组分能被分析。本法的分析结果与电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）或化学分析法分析结果一致, 相对标准偏差均小于2%。本法可用于炼钢双渣脱磷工艺化学成分的快速监控。