排序方式: 共有15条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
2.
为了考察试样尺寸对浇注料受热爆裂性能的影响,研究了以低水泥、超低水泥、硅溶胶、α-bond及MgO-SiO2-H2O结合的矾土基浇注料不同坯体尺寸的抗爆裂性能及物理性能,发现试样尺寸对浇注料爆裂性能的影响与其中低温物理性能密切相关:1)坯体较密实且强度较高者,试样大小对受热爆裂性能影响较大;而初始坯体气孔较多且强度不高或初始坯体较密实而强度一般者,试样大小对受热爆裂性能影响不大。2)当试样尺寸较大时,各体系结合浇注料都较容易发生爆裂,结合方式对浇注料爆裂影响不大;而试样尺寸较小时,以水合结合试样更容易发生爆裂。 相似文献
3.
一、背景 随着电信业务市场竞争格局的形成,当今电信企业已经从原来的“资源竞争”转为向“服务水平竞争”发展,那些对运营商收入比重较大的“大客户”,如银行、证券、企业集团等越来越重要,运营商把提高服务质量作为提高客户忠诚度,争取新的大客户的重要手段,越来越多的运营商为大客户提供SLA.为大客户提供差异化的服务,提供客户的满意度。 相似文献
4.
为研究和设计高品质、高性能的光学滤波、光学放大、光学衰减和全反射镜等器件,通过计算模拟的方式,研究两端对称复缺陷对光子晶体C(AB)n(BAB)(BA)nC光传输特性的激活效应,研究表明:在对称结构光子晶体的两端置入缺陷C,当缺陷C为实介质时,光子晶体透射谱中出现多条透射率为100%的分立透射峰.当C中掺入具有增益放大效应的杂质形成含负虚部的复折射率缺陷时,透射谱中各分立透射峰的透射率均出现增益放大现象,而且缺陷层复折射率的虚部或实部对透射峰的增益放大倍数均具有调制作用,随着缺陷层复折射率的负虚部或实部增大,透射增益放大倍数先增大,达到极大值后再减小,增益放大倍数最高达可达104数量级.当C中掺入具有衰减效应的杂质形成含正虚部的复折射率缺陷时,透射谱中各分立透射峰均出现透射率衰减现象,而且缺陷层复折射率的虚部或实部对透射峰的衰减倍数也具有调制作用,随着缺陷层复折射率的正虚部增大,各分立透射峰的透射率不断衰减,直至透射率趋于零,出现全反射或全吸收现象.两端对称复缺陷对光子晶体光传输特性的调制规律,可为新型光学器件的研究与设计提供理论参考. 相似文献
5.
构造含金属银缺陷的光子晶体模型(AB)m AGA(BA)m,利用传输矩阵法理论,通过计算机计算仿真的方式,研究了金属银缺陷对光子晶体光吸收特性的增强效应,发现当光子晶体中引入金属银缺陷后,光子晶体的光反射率和吸收率均得到增强。在400~1400 nm范围内,平均反射率增强到93.87%,平均吸收率增强到6.13%,且吸收率大小和位置可调。随着周期数m或B介质层厚度d B增大,光子晶体的光吸收率均得到增强,当m=5时吸收率高达98.72%,当d B=118.52 nm时吸收率高达99.59%,且吸收峰的位置随m增大向短波方向移动,但随d B增大向长波方向移动。随着光入射角度θ增大,光子晶体的光吸收率先增强到极大值后再逐渐减弱,且吸收峰的位置随入射角θ增大向短波方向移动。随着A介质层厚度d A增大,光子晶体的光吸收率减弱,当d A=73.22 nm时吸收率为98.72%,且吸收峰的位置随d A增大向长波方向移动。含金属银缺陷光子晶体的光吸收特性,可为新型光学吸收器、太阳能电池、滤波器和全反射器等材料研究和选择提供理论参考。 相似文献
6.
7.
在浇注料成型时埋入压力引出管和热电偶,分别采用单面加热和多面加热方式,测量加热过程中浇注料内部的蒸气压和温度,研究了蒸气压随温度的变化,分析了浇注料试样内部应力的变化和内部水分排出特征。结果表明:多面加热时试样中心在225℃时产生1.85MPa蒸气压,单面加热时距离受热面100mm在286℃时产生最大蒸气压5.88MPa。通过测量受热时浇注料内部的温度和蒸气压,可以预测试样内部最易发生爆裂的位置及其温度和蒸气压。浇注料内部蒸气压和温度的变化结合受热过程内部应力测量和失水特征,有助于深入研究致密耐火浇注料快速烘烤致爆裂机理。 相似文献
8.
本文对10Gbit/s速率SDH系统抖动测试中存在争论的两个问题做了简要分析,明确了抖动转移特性测试的标准,并对抖动测试中在有告警信号抖动输出值是否应随变化的问题进行了探讨,该问题的解释有助于对抖动测试的深入理解。 相似文献
9.
将纯铝酸钙水泥和SiO2微粉复合结合的刚玉质浇注料振动浇注成100 mm×100 mm×100 mm的试样,并在距试样上表面不同深度(分别为40、50、60 mm)处埋入压力引管和热电偶,养护24 h后脱模,然后以5℃·min-1的加热速度升温,记录炉温从100℃升温至约450℃过程中试样内部不同深度处的蒸汽压力和温度。结果表明:1)当炉温升至约400℃时,试样内部不同深度处的蒸汽压力均达到最大,对应的试样内部温度比较接近,约为260℃;炉温超过400℃后,试样内部的蒸汽压力迅速降低。2)在受热过程中,试样的最大蒸汽压力出现在试样中心位置。 相似文献
10.