He气氛对大气颗粒物样品外束PIXE分析影响的初步研究

为改善北师大外束PIXE系统对Al、Si等较轻元素的探测限,在该系统探测器前加装进He装置。采用美国MicroMatter公司的标准样品,在进He量为92.0 SCCM(标况毫升每分钟)的条件下对系统进行刻度,得到GUPIXWIN软件进行定量分析用的16种元素的刻度因子,并同不进He条件下的刻度因子进行比较。在保持实验几何条件不变的情况下,研究He气量对大气颗粒物样品中Si、S、Cl等元素探测限的影响,结果表明:进He量为92.0 SCCM时,可使大气颗粒物样品中Al、Si元素的探测限较不进He气时分别降低80%和47%。     

GIC4117串列加速器外束PIXE/PIGE分析系统

本文介绍在北京师范大学GIC4117串列加速器上建立的外束PIXE/PIGE分析系统,和基于此系统的薄样品外束PIXE/PIGE定量分析方法。给出了2010年Teflon滤膜采集的361个气溶胶样品外束PIXE分析得到的各元素平均探测限和最低探测限,并同真空PIXE分析探测限进行了比较。利用标准样品给出了激发曲线不同坪区薄样品外束PIGE分析F和Na的探测限,通过测定¹⁹F(p, p′γ)¹⁹F激发的197 keV γ射线得到的F的探测限可达73.9 ng•cm^-2,Na的探测限可达198.9 ng•cm^-2。     

气溶胶中F和Na分析的外束质子诱发γ射线激发曲线测量

在大气颗粒物离子束分析中,质子诱发γ射线分析（PIGE）作为质子诱发X荧光发射（PIXE）的补充方法,通常用于分析轻元素。为得到外束PIGE定量分析气溶胶样品中F和Na元素的最佳实验条件,本工作在北京师范大学串列加速器上测定了质子能量在1.8～2.9 MeV范围内,核反应¹⁹F(p,p’γ)¹⁹F（E_γ=110 keV和197 keV）和 ²³Na(p,p’γ)²³Na(E_γ=440 keV)的γ射线激发函数。