射线半影编码孔点扩散函数锐度展宽模拟评估

阐述了射线半影编码成像系统点扩散函数锐度展宽与一般系统点扩散函数半高宽的区别与联系,确立了半影编码成像系统锐度展宽概念,建立了半影编码孔成像系统蒙特卡罗模型。计算获得了0.662、1.25、2.45、5.0、10.0、14.06MeV等一系列能量点的γ射线与中子在半影编码成像系统点扩散函数,并按照定义算出γ射线与中子各能量系统点扩散函数的锐度展宽;得到γ射线和中子能量与半影编码成像系统锐度展宽函数关系,分析了半影编码成像系统点扩散函数锐度展宽的原因,为今后编码孔设计的改进提供理论依据。     

福岛核事故后日本核电厂新安全要求的研究

介绍了日本核电厂新安全要求的出台背景和内容概要,分析了新安全要求现阶段存在的问题和需要改进的方向。将日本核电厂新安全要求中的内容和特点加以总结,为我国提高核安全监管水平提供借鉴和参考。     

一种基于模式识别的放射性核素快速识别方法研究

基于模式识别的方法,应用核辐射数字化测量分析平台,通过综合利用放射性核素的射线信息,选定核素的辐射特征信息,建立核素特征数组库,设计识别方法应用于中、低分辨率探测器的放射性核素识别。在实验中发现在传统中低分辨率谱仪系统对单一核素全能峰未达到统计下限值时,使用快速识别算法的数字系统对3种混合核素的识别率达到90%以上。结果表明此方法明显优于传统算法,有效地提高了放射性核素的快速识别能力。     

科学2#CCD抗辐照性能实验研究

介绍了用于辐射成像系统中关键部件科学2#CCD辐照考核实验的方法、实验装置以及该CCD辐照前后成像能力的变化,给出主要性能指标:CCD成像灰度,随辐照时间的变化函数曲线,在线获取了CCD在其辐射工作环境下其性能随时间变化情况.得出有关CCD抗辐照性能的初步结论.