双面硅条探测器的研制与测试

研制了双面硅条探测器。探测器灵敏面积为48mm×48mm,厚约300μm,结面和欧姆面的硅条互相垂直,均由相互平行、宽度相等的48条组成,每条宽0.9mm、间距0.1mm。对其电气特性(耗尽偏压、反向漏电流、条间电阻)和探测特性(上升时间、能量分辨、条间串扰)进行了测试。在偏压为-15V时,各条平均反向漏电流小于10nA。对于从结面入射的5.157 MeV的α粒子,前放信号上升时间约45ns,结面各条的能量分辨率约0.6%~0.7%,基本无条间串扰;欧姆面各条能量分辨率较差,存在条间串扰。     

QWR铜铌溅射超导腔铜基频率的机械修正

对QWR铜铌溅射超导腔铜基进行频率修正时,需考虑温度导致的频率变化。本工作研究了铜基频率随温度的变化,并在液氮温度下进行实验验证,在此基础上确定了铜基频率的修正工艺。实验结果表明,150 MHz的QWR铜铌溅射超导腔修正后的频率与预期频率误差在2 kHz以内。     

强流溅射源束流杂质的分析和消除

在北京HI-13串列加速器上使用强流溅射源引出某些离子时,总是含有不必要的束流杂质。经详细分析后确定束流杂质主要是由离子源内部一个绝缘套筒造成的。本文对离子源内部结构进行了改进:在靶阴极与阳极之间的绝缘套筒上加上内外金属屏蔽帽,从而降低了束流杂质,提高了束流的纯度和强度。     

HI-13串列加速器加速管技术改造

HI-13串列加速器加速管技术改造已经完成。用1根243．8cm和7根223．5cm的加速管替代了已使用16年之久的8根182．9cm加速管。为配合新加速管的安装，对加速器的主体布局进行了调整，对加速器的死区结构、充电系统、电阻分压系统进行了改造，重新设计制作了加速管入口栅网透镜及供电和控制系统，研制了新的输电梯死区惰轮。改造后的加速器头部电压达15．07MV。     

类金刚石碳剥离膜的制备及其性能研究

采用磁过滤阴极真空弧(FCVA)技术制备了质量厚度为5~7μg/cm2的类金刚石碳(DLC)剥离膜。用XP2U型精密电子天平测试分析了100mm范围内的DLC剥离膜均匀性,结果显示其最大不均匀性小于10%。通过扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、万能摩擦磨损试验机和X光电子谱(XPS)测试分析了DLC剥离膜的表面形貌、耐磨损特性和结构,结果显示采用双90°FCVA技术沉积的DLC剥离膜表面光滑致密、耐磨,几乎没有大颗粒的污染,表征金刚石特性的sp3键含量超过70%。在北京HI-13串列加速器上使用107 Ag-、70 Ge-、48 Ti-、28Si-、197 Au-和127I-六种典型质量的离子束对质量厚度为5~7μg/cm2的DLC剥离膜和碳剥离膜寿命进行测试比较,结果显示DLC剥离膜寿命比碳剥离膜的高2.6~10倍。     

北京HI-13串列加速器近期状况

北京HI-13串列加速器一直保持良好的运行状态.近几年,根据设备的运行状态和实验室的发展需求,陆续完成了注入器升级改造、能量重新刻度、分析磁铁电源改造、主真空系统改造等技术改造工作.新建两条专用实验束流线,正在进行辐射防护系统的改造.本文介绍串列加速器的运行情况,重点阐述技术改造的完成或进展情况.