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离子交换树脂在提取铀的过程中,同时也将溶液中的杂质元素如磷、硅等吸附上去,随着吸附量的增加,将严重影响树脂分离铀的效率,称为树脂“中毒”现象。因此,为分别研究磷、硅含量对离子交换过程和“中毒”现象的影响,发展快速、准确测定树脂中磷、硅含量的分析方法是必要的。 14MeV中子与磷和硅作用,可产生(n,p)、(n,α)和(n,2n)反应。~(31)P(n,α)~(28)Al和~(28)Si(n,p)~(28)Al反应都生成~(28)Al,后者放出半衰期为2.3分钟的1.78MeV γ射线。~(31)P(n,2n)~(30)P反应放出半衰期2.5分钟的β~ 相似文献
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带电粒子薄层活化法(TLA)以其高灵敏、非破坏和有利情况下在线监测的特性,在磨损、腐蚀、溅射等材料表面损失过程监测和研究中具有独特的优势。Fe和Ti是两种最常见的军用和军民两用材料。本工作以选择能量的p和d活化反应,分别研究了0~80 μmFe和0~150 μmTi表面层范围内生成核放射性强度与表面层深度的函数关系。 相似文献
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带电粒子薄层活化法(TLA)以其高灵敏、非破坏、和有利情况下在线监测的特性,在磨损、腐蚀、溅射等材料表面损失过程监测和研究中具有独特的优势。本工作选择9 MeV质子对Fe基(A3)材料进行活化, 对其进行腐蚀行为的模拟研究。 用高纯(99.9%)Fe制成10个厚度约为1.4 mm、半径约为14 相似文献