γ射线的多谱分析方法

现代原子核物理的一个重要领域是对远离β稳定线核素的研究。这些核素都具有短的衰变半衰期。因此,测量短寿命核素或核态衰变的实验技术显得愈益重要。γ射线的多谱分析方法正是这种实验技术的一个组成部分。 早在六十年代中,这种电子学技术随着多道分析器的发展而产生。到七十年代中,多谱分析方法已成为商业性标准多道分析器功能中的一个部分,得到了广泛的应用。目前,则成为在线计算机的一种很普通的数据获取方式。但在国内,至今运用这种技术的报道还不多。 最近,在我所中子发生器实验室建立了跑兔和Ge(Li)探测器γ射线多谱分析方法相结合的实验技术,用以     

双参数获取多功能控制器

双参数获取多功能控制器是一个单宽度NIM插件,与三个ADC,IBM微机及接口连接组成双参数获取多功能微机多道。它的功能分三部分:(1)双参数获取 全谱为256×256,利用开窗技术分区域获取可达512×512,1024×1024。(2)单谱 两个单路可同时获取。(3)谱定标(又称多谱获取)可用范围:单向 1024道×8,0048道×4;双向2×1024道×4,2×512道×8。     

用于核态寿命测量的X—γ—γ定时符合系统

由两只ＢａＦ２闪烁探测器和一只高纯锗探测器组成的延迟符合系统适用于电子俘获衰变和Ｅ０跃迁生成的ｎｓ和ｐｓ量级激发态寿命测量。快符合涉及特征Ｘ射线和相应的级联衰变γ射线测量，系统具有元素和级联选择的优点。该系统对放射性核素１５２￣Ｅｕ进行测量，除得到Ｘ－γ－γ瞬发时间谱的半高全宽度外，还分别得到１２１．７８ｋｅＶ和３６６．４８ｋｅＶ能级的半寿命分别为１．３９５±０．０３５ｎｓ和４８±１０ｐｓ。结果表明该系统适用于Ｚ≥６２的电子俘获衰变研究。     

135La(EC+β+)衰变的研究

用ＨｐＧｅ探测器和低本底普顿抑制谱仪研究了＾１３５Ｌａ的放射性衰变,实验得到单谱,康普顿抑制谱和γ－γ符合谱。根据实验数据得到＾１３５Ｂａ低激发态,γ跃迁的能量,强度和级联关系以及＾１３５Ｌａ衰变纲图。采用了角动量投影壳模型理论为＾１３５Ｂａ低激发态能级进行计算,并与实验值进行了比较。     

炮弹体内炸药密度的测定

利用本文提出的等效物理吸收厚度的概念,计算了弹体内充填炸药,水及空气等介质材料时,受准直γ束照射的流线锥形台柱体所相应的等效物理吸收厚度值。导出检测炮弹内炸药密度的公式,报道了实验结果。     

70As的衰变研究

采用低本底ＮａＩ－ＨｐＧｅ反康普顿谱仪和γ－γ－Ｔ（ＨｐＧｅ－ＨｐＧｅ）三参数快慢符合系统研究了＾７０Ａｓ３７→＾７０Ｇｅ３８的衰变，通过γ单谱和反康普顿谱的分析，给出了６５条γ射线的能量及相对强度；利用符合关系建立了＾７０Ａｓ３７→＾７０Ｇｅ３８的衰变纲图，其中，１０３６．９９、１１９６．６６、１５３９．２９、２５３１．７ＫｅＶγ射线为首次测到的，３５７０．５３、４２４３．１０、５２６５．８１ｋ