ST-102C式NaI(Tl)晶体中KX射线逃逸率的计算

本文对ST-102C式NaI(Tl)晶体中碘原子K层X射线的五种主要成分K_(α1)、K_(α2)、K_(β1)、K_(β2)和 K_(β3)的逃逸率分别进行了计算,然后根据五种 X 射线的相对强度进一步计算了加权平均逃逸率。计算中所选用的初始入射 X 射线能量在33.5—1000keV 之间。     

X射线机重过滤X射线能谱的测量

本文报道了用 NaI(Tl)闪烁谱仪对国产 F34-Ⅰ型 X 射线机的重过滤 X 射线能谱的测量和解谱方法,给出一组测量结果,并对测量结果进行了比较和讨论。     

电化蚀刻固体径迹探测器相对灵敏度的计算

本文采用 Mason 电击穿公式,用一个简单的数字模型,对电化蚀刻过程中固体径迹探测器记录粒子径迹的相对灵敏度 S 与外加电场强度 E 的关系及其它有关参数的影响进行了研究。计算了 CR-39电化蚀刻的 S-E 曲线,并与一些作者的实验结果作了比较。     

核事故地面辐射场γ能谱及角分布

核素^131I和^137Cs地表污染场是在堆芯熔化事故后可能出现的两种典型辐射场，就^131I和^137Cs两种地面均匀污染场中高度1m处γ辐射的剂量能谱和角分布用Monte Carlo方法进行了计算研究。     

X射线能谱处理中NaI(Tl)闪烁体边界效应矩阵的蒙特-卡罗计算

用 NaI(Tl)闪烁谱仪测量 X 射线机产生的 X 射线能谱是一个较为方便的方法。在此方法的应用中应当考虑到闪烁体边界效应的影响。本文报道了在解谱中表征这一影响的两个矩阵的蒙特-卡罗计算方法和计算结果,并对计算结果作了简要讨论。     

康普顿谱仪及其对连续γ谱的测量技术

用塑料闪烁体康普顿谱仪测量了落下灰样品的连续γ能谱,提出了相应的解谱方法,用~(60)Co、~(65)Zn、~(137)Cs等γ源对此法进行了验证,最后对样品能谱进行了解析并与其他作者的结果作了比较。