Co掺杂对充填型方钴矿化合物PrFe4P12的强关联电子性质的影响

充填型方钴矿化合物PrFe₄P₁₂在低温6.5 K显示出异常有序相变及重电子性质。为研究3d电子在这些相变中的影响,采用助溶剂方法制备了Pr(Fe_1-xCo_x)₄P₁₂样品,通过测量比热、磁化率及非弹性中子散射对掺杂前后f电子状态的变化进行了研究。实验结果表明,PrFe₄P₁₂的物性对Co的掺杂极为敏感,仅3%的掺杂即可导致异常有序相迅速消失,同时其重电子态受明显抑制,f电子由与传导电子的混合态转变为局域态。     

氟离子碰撞引起的钽L壳层X射线产生截面测量

测量了20～55 MeVF5+离子和Ta原子碰撞中Ta产生的L壳层X射线.计算了Ta的L各支壳层产生截面的比值和总截面的比值.利用L壳层的辐射跃迁几率、CrosterKroning跃迁几率和L亚壳层的荧光产额,将平面波波恩近似（PWBA）和ECPSSR理论计算的电离截面转换为L层X射线产生截面,并与实验结果进行比较.结果表明,σ(Ll）/σ(Lα)、σ(Lγ)/σ(Lα)和σ(Ltotal)/σ(Lα)与ECPSSR理论预测结果吻合较好,σ(Lβ)/σ(Lα)较两种理论预测值均偏小.     

德国中子谱仪2008年度工程进展

中国先进研究堆（CARR）即将于2009年临界,中国原子能科学研究院核物理研究所中子散射实验室将依托于临界后的中国先进研究堆开展中子散射研究。为缩短设备研制周期,节省研究经费,减小与国外中子散射研究的差距,中子散射实验室从德国于利希研究中心（ForschungszentrumJuelichGmbH）引进1台中子三轴谱仪、1台中子四圆衍射仪和1台中子织构衍射仪。     

O^5＋离子入射在金属表面形成L壳层X射线产生截面的研究

迄今为止，K壳层电离的研究已取得了长足的进展。人们已对各不同入射离子轰击各种靶元素，在很大的能区范围内测量了K壳层X射线产生截面，而L壳层的实验数据则不够完善。本实验测量了20-45MeV的O^5＋离子轰击金属元素Au，Nb，Cd，Fe和Ta靶所引起的L亚壳层X射线产生截面。