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一、引言我所从法国引进的IMS-300型离子探针分析仪备有间接观察显微镜装置,它可在分析样品的前后对待测样品或已测样品进行间接观察,但美中不足的是在分析样品的过程中,它不能用来对被一次离子束轰击并正在溅射出二次离子束的样品进行动态观察,更谈不上用于 相似文献
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