中子背散射探雷技术的分析与评估

本文分析了中子背散射探雷技术的原理,通过数值模拟对中子背散射探雷技术进行研究,并对该技术进行分析评估,为进一步开展中子背散射探雷技术的工程研究提供理论基础。     

高纯锗探测器在300keV～1.5MeV能区的效率刻度

通过建立300keV～1.5Mev能区的γ射线的点源效率与源距离的拟合回归方程,解决了效率随源距离变化的修正问题,为某些特殊要求下快速测量速报数据提供理论支持.     

~(10)B靶转换法测量金属钚质量的MC模拟

为验证硼转换法测量金属钚质量的可行性,模拟计算并设计了-个10B转换靶.该方法是军控核查中测量金属钚质量的新方法,利用10B靶将金属钚自发裂变中子转化为478 keV γ射线,由γ射线的计数信息反推算金属钚质量.研究重点是通过蒙特卡罗程序模拟中子-光子转化输运过程,调整10B靶体的各项参数(成分、厚度、位置、形状等)获得尽可能高的转换效率.优化模型的模拟计算结果使478 keV γ射线产额在设计条件下超过10-5,满足公斤级金属钚的探测要求,为方案实施提供理论依据.